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1.碳膜的多采用酚醛树脂,其结构上存在羟基与苯环直接相连,由于共轭效应,氧原子上未共享电子对移向苯环上而使氢原子易成H+,它在碱溶液中与OH-作用,引起水解致使整个分子受破坏,同时高温加速水解。2.文字油墨的主体是不形成网状结构或体型结构的线型树脂,此类树脂是碳原子以直链形式连接,稳定性差。溶剂对表面分子链先溶剂化,然后树脂内部逐步溶剂化,使油墨溶胀引起鼓泡或脱落。3.采用中性水基清洗或常温清洗可缓解碳膜和文字油墨等材料的破坏,在规定的清洗时限内保持材料的完好性。2、原因分析阔智通测科技(广州)有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技术以XX水基清洗剂为例,结合了溶剂和表面活性剂技术优点的水基清洗技术,具有宽大的应用窗口和从电子基材表面彻底去除所有污染物的能力。SIR是通过测试表面绝缘电阻的方法来监控ECM电化学迁移的发生程度; 通常我们习惯讲的SIR,即为ECM测试;浙江供应电阻测试厂家供应
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铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应,也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲,就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上,然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境,相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂,并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级,通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下,助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境,这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试前和测试后仔细检查其表面颜色的变化来确定是否有腐蚀的迹象。观察结果通常可以用L、M和H来表示腐蚀性的等级。湖南电阻测试推荐货源系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理。
这种生长可能发生在外部表面、内部界面或穿过大多数复合材料本体。增长的金属纤维丝是含有金属离子的溶液经过电沉积形成的。电沉积过程是从阳极溶解电离子,由电场运输重新沉积在阴极上。在电路与组装材料发生的反应过程中,随着时间的推移而逐渐形成这种失效。当金属纤维丝在线路板表面以下生长时,称为导电阳极丝或CAF,本文中不会讨论这种情况,但这也是一个热门话题。当电化学迁移发生在线路板的表面时,它会导致线路之间的金属枝晶状生长,比较好使用表面绝缘电阻(SIR)进行测试。可靠的电子组装产品必须能在不同的环境中经受住各种影响因素的考验,例如:热、机械、化学、电等因素。测试每一种考验因素对系统的影响,通常以加速老化的方式来测试。这也就是说,测试环境比起正常老化的环境是要极端得多的。此文中的研究对象主要是各种测试电化学可靠性的方法。IPC将电化学迁移定义为:在直流偏压的影响下,印刷线路板上的导电金属纤维丝的生长
在精密电子制造业的舞台上,每一块PCBA(印刷电路板组装)的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展,PCBA的复杂度与集成度不断提升,如何有效控制生产过程中产生的污染物,确保电路板的长期可靠性,成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统,正是这一挑战的解决方案。【深度洞察,精确监测】广州维柯多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统 GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准,专为PCBA的可靠性评估而设计,它能够实时监控SIR(表面绝缘电阻)和CAF(导电阳极丝)的变化,精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。选择智能电阻时,用户需要考虑测量范围和分辨率。
电迁移失效同常规的过应力失效不同,它的发生需要一个时间累积,失效通常会发生在**终客户的使用过程中,可能在使用几个月后,也可能在几年后,往往会造成经济上的重大损失。但是,电迁移的发生不仅同离子有关,它需要离子,电压差,导体,传输通道,湿气以及温度等各种因素综合作用,在长期累积下产生的失效。随着电子产品向小型化/集成化的发展,线路和层间间距越来越小,电迁移问题也日益受到关注。一旦发生电迁移会造成电子产品绝缘性能下降,甚至短路。所以,通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。维柯表面绝缘电阻测试系统能帮助第三方实验室有效监测,检测。,由于起火事故往往破坏了PCB的原始状态,所以有的即便是离子迁移故障也无法加以确定。贵州销售电阻测试系统
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线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素:无论是线路板材料和阻焊层、元器件的清洁度,还是制板工艺或组装工艺产生的任何残留物(包括助焊剂残留物)。由于这种失效机制是动态变化的,理想状况是对每种设计和装配都进行测试。但这是不可行的。这就提出了一个问题:如何比较好地描述一个组件的电化学迁移倾向。表面电子组件的电化学迁移的发生机理取决于四个因素:铜、电压、湿度和离子种类。当环境中的湿气在电路板上形成水滴时,能够与表面上的任何离子相互作用,使离子沿着电路板表面移动。离子与铜发生反应,它们在电压的作用下,被推动着在铜电路之间迁移。这通常被总结为一系列步骤:水吸附、阳极金属溶解或离子生成、离子积累、离子迁移到阴极和金属枝晶状生长。浙江供应电阻测试厂家供应
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