表面绝缘SIR电阻测试方法

CAF测试方法案例:1、保持测试样品无污染，做好标记，用无污染手套移动样品。做好预先准备，防止短路和开路。清洁后连接导线，连接后再清洁。烘干，在105±2℃下烘烤6小时。进行预处理，在中立环境下，保持23±2℃和50±5%的相对湿度至少24h。2、在该测试方法中相对湿度的严格控制是关键性的。5%的相对湿度偏差会造成电阻量测结果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置电压加载的情况下，一旦水凝结在测试样品表面，有可能会造成表面树枝状晶体的失效。当某些烤箱的空气循环是从后到前的时候，也可能发现水分。凝结在冷凝器窗口上的水有可能形成非常细小的水滴**终掉落在样品表面上。这样可能造成树枝状晶体的生长。这样的情况必须被排除，确保能够得到有意义的测试结果。虽然环境试验箱被要求能够提供并记录温度为65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH的环境，其相对湿度的波动时间越短越好，不允许超过5分钟。，由于起火事故往往破坏了PCB的原始状态，所以有的即便是离子迁移故障也无法加以确定。表面绝缘SIR电阻测试方法

科技**未来，GWHR256为PCBA质量把关》在追求零缺陷的电子制造行业中，预防总是优于纠正。GWHR256系统凭借其高度智能化的设计，不仅能够实时监测，还能通过自检功能确保自身的准确性和稳定性，为PCBA的生产过程加上了一道保险锁。在系统内部，先进的温湿度监测模块，确保测试环境的恒定，排除外界因素对测试结果的干扰，让每一次测试都准确可靠。【环境适应性强，操作便捷】考虑到实际生产环境的多样性，GWHR256系统设计有良好的环境适应性，能在不同温湿度条件下稳定工作，且配备有不间断电源配置，保证测试连续性。其操作界面友好，数据可视化直观，无论是曲线展示还是Excel格式导出，都能轻松实现，为工程师提供高效、便捷的测试体验。广西SIR和CAF电阻测试系统作业现场的尘埃、水及挥发溶剂的蒸气、大气烟雾、微小颗粒有机物、角质及静电引起的带电粒子等。

当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时，在高温高湿状态下施加电压，电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下，离子化金属向相反的电极间移动（阴极向阳极转移），相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象（类似锡须，容易造成短路），这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时，表面绝缘电阻（SIR）测试可以通过电阻值显现出来。表面绝缘电阻（SIR）测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压，经过长时间的试验，观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻（SIR）测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题，也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质，通过表面绝缘电阻（SIR）测试数据可以直接反映PCB的清洁度。

广州维柯信息技术有限公司的SIR表面绝缘电阻测试系统，集成了行业的测量技术，实现了检测精度与测试效率的双重提升。该系统采用高灵敏度传感器，每秒20ms/所有通道的速度即便是在低电阻范围内也能准确读取数据，误差率极低，确保了测试结果的科学性和可靠性。同时，其内置的算法能迅速处理大量数据，缩短测试周期，对于大规模生产线上追求快速反馈和质量控制的企业来说，无疑是提升竞争力的利器。广州维柯SIR系统，以精度与速度，平齐行业标准。焊锡青、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。

1.碳膜的多采用酚醛树脂，其结构上存在羟基与苯环直接相连,由于共轭效应,氧原子上未共享电子对移向苯环上而使氢原子易成H+,它在碱溶液中与OH-作用,引起水解致使整个分子受破坏，同时高温加速水解。2.文字油墨的主体是不形成网状结构或体型结构的线型树脂，此类树脂是碳原子以直链形式连接，稳定性差。溶剂对表面分子链先溶剂化，然后树脂内部逐步溶剂化，使油墨溶胀引起鼓泡或脱落。3.采用中性水基清洗或常温清洗可缓解碳膜和文字油墨等材料的破坏，在规定的清洗时限内保持材料的完好性。2、原因分析阔智通测科技（广州）有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技术以XX水基清洗剂为例，结合了溶剂和表面活性剂技术优点的水基清洗技术，具有宽大的应用窗口和从电子基材表面彻底去除所有污染物的能力。高精度SIR测试设备提供可靠的CAF监测数据，关键在于确保测试环境稳定，如温度、湿度控制，以获得准确结果。广东SIR表面绝缘电阻测试注意事项

随技术的发展电子产品的集成度越来越高，电路板（PCB/PCBA）上的元件也越来越密集。表面绝缘SIR电阻测试方法

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认结果的失效原因，可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试（包括破坏性实验）。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。表面绝缘SIR电阻测试方法