SIR表面绝缘电阻测试系统

在电阻测试领域，广州维柯信息技术有限公司凭借其出色的高精度电流测量能力，树立了行业的首要。维柯的SIR/CAF检测系统，以其±10pA的电流测量精度，在同类产品中脱颖而出，这一精度水平在高精度测试中尤为关键。无论是对于微小电阻的测量，还是对于高阻值材料的测试，维柯的设备都能提供准确无误的数据，确保测试结果的可靠性。这种高精度不仅源于其先进的硬件设计，更得益于其独特的算法优化，使得在复杂多变的测试环境中，维柯的设备依然能够保持稳定的测量性能。在生产线上，准确的电阻测试是确保产品质量的关键。SIR表面绝缘电阻测试系统

线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素：无论是线路板材料和阻焊层、元器件的清洁度，还是制板工艺或组装工艺产生的任何残留物（包括助焊剂残留物）。由于这种失效机制是动态变化的，理想状况是对每种设计和装配都进行测试。但这是不可行的。这就提出了一个问题：如何比较好地描述一个组件的电化学迁移倾向。表面电子组件的电化学迁移的发生机理取决于四个因素：铜、电压、湿度和离子种类。当环境中的湿气在电路板上形成水滴时，能够与表面上的任何离子相互作用，使离子沿着电路板表面移动。离子与铜发生反应，它们在电压的作用下，被推动着在铜电路之间迁移。这通常被总结为一系列步骤：水吸附、阳极金属溶解或离子生成、离子积累、离子迁移到阴极和金属枝晶状生长。湖南SIR和CAF表面绝缘电阻测试分析离子污染导致异常的离子迁移，终导致产品失效，常见的是PCB板的腐蚀、短路等。

铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应，也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲，就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上，然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境，相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂，并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级，通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下，助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境，这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试前和测试后仔细检查其表面颜色的变化来确定是否有腐蚀的迹象。观察结果通常可以用L、M和H来表示腐蚀性的等级。

在实际应用中，电子产品制造商通常需要对大量的样品进行电阻测试。维柯的设备支持多个任务同时进行，可以在一个测试任务执行期间，灵活地启动其他测试任务。这样，制造商可以在短时间内完成大量的测试工作，极其提高了测试效率。此外，模块化设计还使得维柯的设备在测试过程中更加灵活多变。当个别通道出现问题时，可以迅速替换而不影响其他模块的工作，从而保证了测试的连续性和稳定性。维柯的SIR/CAF检测系统不仅具备高精度的测量能力和大范围的测量范围，还拥有强大的数据管理与分析功能。系统能够实时保存所有测试数据，并提供直观的阻值曲线和趋势报告，便于用户进行数据分析。该系列产品均能提供可靠、准确的测试结果，确保产品的质量和可靠性。

电子元器件筛选的目的：剔除早期失效产品。提高产品批次使用的可靠性。元器件筛选的特点：筛选试验为非破坏性试验。不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。对批次产品进行*筛选。筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。电子元器件筛选常规测试项目：检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验、颗粒碰撞噪声检测。环境应⼒筛选：高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离⼼加速度、温度冲击、综合应⼒、动态老炼。 电子元器件筛选覆盖范围：半导体集成电路：时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;电阻测试结果的解读需结合元件的标称值及允许误差范围。贵州SIR绝缘电阻测试服务

随技术的发展电子产品的集成度越来越高，电路板（PCB/PCBA）上的元件也越来越密集。SIR表面绝缘电阻测试系统

1.1机械开封机械开封后1#电阻样品表面形貌如图1所示，可明显发现电阻表面有一层金属光泽异物粘附，异物呈树枝状结晶，由一端电极往另一端电极方向生长，并连接了电阻两端电极；一端电表表面发生溶解，且溶解的端电极表面存在黑色腐蚀产物。有数据统计90%以上的电阻在大气环境中使用[1]，因此不可避免地受到工作环境中的温度、湿度、灰尘颗粒及大气污染物的影响，很容易发生电化学迁移。电化学迁移被认为是电阻在电场与环境作用下发生的一种重要的失效形式，会导致产品在服役期间发生漏电、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的电路板使用大约2年后其内部电阻存在短路失效的情况。SIR表面绝缘电阻测试系统