云南fpc元件补强胶水厂家

影响底部填充胶流动性的因素有很多，在平行的测试条件下，下面有些可以检讨的因素： 1）粘度：毋庸置疑粘度肯定是影响流动速度较关键的因素之一，目前像粘度在几百cps的胶水基本上都是可以不需要预热点胶的，填充速度基本上都是一两分钟以内的；而像粘度稍大一些的达到几千cps的胶差别就比较大了（从几分钟到十几分钟不等）； 2）预热温度：这也是一个非常关键的影响因素，尤其是对一些粘度在一千以上的胶水，一般在预热（预热温度就需要结合各家的产品的特性，一般可以胶水的粘温曲线做参考，当并非一一直接对应的关系）的情况下，粘度为几千的胶水能降到几百，流动性会明显增大，但要注意预热温度过高过低都可能会导致流动性变差； 3）基板的差别（芯片的尺寸及锡球的分布、锡球球径及数量、锡球间距、助焊剂残留、干燥程度等），这个对填充速度也是有一定影响的，在某些情况下影响也是非常明显的。当然这些差别对另一个底填胶的指标影响更大，后面会细说。当然如果是几种胶水平行测试，这个因素的影响是一致的。选择底部填充胶主要需要关注哪些参数？云南fpc元件补强胶水厂家

底部填充胶的表面绝缘电阻： 我手上有一份针对底填胶SIR的相关测试，摘录相关方法如下： 检测项目：表面绝缘电阻 技术要求：参考IPC J-STD-004B Requirements for Soldering Fluxes（大于10^8欧姆以上） 检测方法：参考IPC-TM-650 2.6.3.7 Surface Insulation Resistance（双85下168小时） 检测仪器: 高低温交变潮热试验箱；SIR在线测试系统；立体显微镜；高温箱。 1） IPC J-STD-004B这个技术要求其实是针对阻焊剂的，因为底填胶这个产品并没有自身的相关标准，很多都是参考IPC里面关于其它材料的标准建立的，如之前的金相切片实验也是如此； 2）对于环氧体系的胶水（非为导电设计）而言，一般情况下其表面绝缘一般都是在10的12～16次方以上，即使经过了相关环境试验的考验，较多就下降一到两个数量级就稳定了，所以通过以上测试不是什么太大的问题。低粘度底部填充剂公司底部填充胶一般固化温度在80℃-150℃。

关于底部填充胶的温度循环测试，除了制定的测试条件外，有两个指标其实是对测试结果有蛮大的影响的。一个是填充效果的确认，如果填充效果不理想，太多的气泡空洞或者由于锡膏助焊剂产生的兼容性问题的话，后期参与TC测试的效果肯定也是会打折扣的，有很多公司把切片实验放在前面，如果切片效果显示填充不理想的话，往往不会再继续往下进行TC测试的，毕竟成本和时间都要花费不少。另个影响因素就是固化度，理论上当然是固化越完全的话参与TC测试的效果是有正向作用的（固化越完全理论上交联密度越大），否则可能在TC测试中发生二次固化或者其他一些不可预期的反应，对测试效果影响也会很大的。 另外对于TC实验影响比较大的两个胶粘剂自身的参数是玻璃转化温度（Tg值）和底填胶固化后的CTE（热膨胀系数）。理论上Tg值越高，CTE越低（Tg前后的CTE值都较低且两者差值较小）通过TC测试的效果会更好。但追求这两个参数的时候又需要注意兼顾前面提到的返修性及流动性的要求，这应该是底填胶的一个难点。另外模量与Tg和CTE之间的匹配关系也是很重要，当具体需要怎样设计可能又需要上升到理论研究的层面了。

底部填充胶能很好的减少焊接点的应力，将应力均匀分散在芯片的界面上。选择合适的底部填充胶对芯片的铁落和热冲击的可靠性都起到了很大的保护作用。底部填充胶的流动现象是反波纹形式，黄色点为底部填充胶的起点位置，黄色箭头为胶水流动方向，黄色线条即为底部填充胶胶水在BGA芯片底部的流动现象，于是通常底部填充胶在生产流水线上检查其填充效果，只需要观察底部填充胶胶点的对面位置，即可判定对面位置是否能看到胶水痕迹。底部填充胶是一种低黏度、低温固化的毛细管流动底部下填料(Underfill), 流动速度快，工作寿命长、翻修性能佳。什么是底部填充胶性能？

底部填充胶是什么？因为CSP/BGA的工艺操作相关产品对于电子产品整体质量的要求越来越高，比如防震。一台手机在两米高的地方落地质量完好，开机可以正常运作，对手机性能没多大影响，只是外壳刮花了点。为什么呢，就是因为用了底部填充胶,将BGA/CSP周围填充，也可以在里面填充，这样就能使其更牢固的粘接在PBC板上了。另外还有的就是FPC软线路板方面，底部填充胶点在小元件上，让其不易脱落。底部填充胶完全可以符合以上几种操作工艺，还易返修。底部填充胶，在室温下即具有良好的流动性，填充间隙小，填充速度快。深圳LED灌封保护胶厂家

PoP底部填充在设计时应考虑到由于封装高度的增加。云南fpc元件补强胶水厂家

底部填充胶(underfill)中空洞的去除方法： 在许多底部填充胶(underfill)的应用中，包括从柔性基板上的较小芯片到较大的BGA封装，底部填充胶(underfill)中出现空洞和气隙是很普遍的问题。这种在底部填充胶(underfill)部位出现空洞的后果与其封装设计和使用模式相关，典型的空洞会导致可靠性的下降，本文将探讨减少空洞问题的多种策略。 如果已经确定了空洞产生的位置，你可能就已经有了检测空洞的方法，不同的方法对问题的解决都是有用的。其中较常用的三种检测空洞的方法分别是：利用玻璃芯片或基板，超声成像和制作芯片剖面或将芯片剥离的破坏性试验。 采用玻璃芯片或基板会十分有效，这种方法能对测试结果提供即时反馈，并且能有助于理解何种流动类型能使下底部填充胶(underfill)的流动速率达到较优化，而采用不同颜色的底部填充胶(underfill)材料也可帮助实现流动直观化。这种方法的缺点在于玻璃器件上底部填充胶(underfill)的流动和空洞的形成行与实际的器件相比可能有些细微的偏差。云南fpc元件补强胶水厂家

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