淄博车载bga填充胶厂家

底部填充胶的返修效果： 关于返修效果，这个是一个相对更难量化的标准，就目前市面上常见的胶水，其实基本都是属于可返修型的，如果要从返修效果来分估计只能分成易返修、可返修和难返修三种，而将胶水的返修程度归到哪一类其实与返修的人、返修设备及返修方法、返修的时间等有着很大关系。 目前在返修环节碰到的一个较常见的问题就是焊盘的损伤，或者称之为掉焊盘，一般容易掉的都是空焊盘（没有了铜箔的互联，与基板的附着力当然要差一些），所以后来在一些公司的返修判断标准中将掉空焊盘也作为可退让接受的。选择底部填充胶主要需要关注哪些参数？淄博车载bga填充胶厂家

底部填充胶(underfill)中空洞的去除方法： 在许多底部填充胶(underfill)的应用中，包括从柔性基板上的较小芯片到较大的BGA封装，底部填充胶(underfill)中出现空洞和气隙是很普遍的问题。这种在底部填充胶(underfill)部位出现空洞的后果与其封装设计和使用模式相关，典型的空洞会导致可靠性的下降，本文将探讨减少空洞问题的多种策略。 如果已经确定了空洞产生的位置，你可能就已经有了检测空洞的方法，不同的方法对问题的解决都是有用的。其中较常用的三种检测空洞的方法分别是：利用玻璃芯片或基板，超声成像和制作芯片剖面或将芯片剥离的破坏性试验。 采用玻璃芯片或基板会十分有效，这种方法能对测试结果提供即时反馈，并且能有助于理解何种流动类型能使下底部填充胶(underfill)的流动速率达到较优化，而采用不同颜色的底部填充胶(underfill)材料也可帮助实现流动直观化。这种方法的缺点在于玻璃器件上底部填充胶(underfill)的流动和空洞的形成行与实际的器件相比可能有些细微的偏差。贵州smt填充胶厂家底部填充胶是一种低黏度、低温固化的毛细管流动底部下填料。

底部填充胶的表面绝缘电阻： 我手上有一份针对底填胶SIR的相关测试，摘录相关方法如下： 检测项目：表面绝缘电阻 技术要求：参考IPC J-STD-004B Requirements for Soldering Fluxes（大于10^8欧姆以上） 检测方法：参考IPC-TM-650 2.6.3.7 Surface Insulation Resistance（双85下168小时） 检测仪器: 高低温交变潮热试验箱；SIR在线测试系统；立体显微镜；高温箱。 1） IPC J-STD-004B这个技术要求其实是针对阻焊剂的，因为底填胶这个产品并没有自身的相关标准，很多都是参考IPC里面关于其它材料的标准建立的，如之前的金相切片实验也是如此； 2）对于环氧体系的胶水（非为导电设计）而言，一般情况下其表面绝缘一般都是在10的12～16次方以上，即使经过了相关环境试验的考验，较多就下降一到两个数量级就稳定了，所以通过以上测试不是什么太大的问题。

底部填充胶是一种单组分、低粘度、流动性好、可返修的底部填充剂，用于CSP、BGA、WLCSP、LGA以及其它类型设备时，可降低应力、改善可靠度、并提供较好的加工性能，具有快速固化、室温流动性、高可靠性、可返工性和优异表面绝缘抗阻性能的解決方案，配方设计可降低由不同膨胀系数导致的应力水准，在热循环、热冲击、跌落实验和其它必要实验及实际使用中稳定性较好。底部填充胶使用寿命越短包装应该稍小，比如用于倒装芯片的胶水容量不要超过50ml，以便在短时间内用完。大规模生产中，使用期长的胶水可能会用到1000ml的大容量桶装，为此需要分装成小容量针筒以便点胶作业，在分装或更换针筒要避免空气混入。底部填充胶的返修效果，这个是一个相对更难量化的标准。

影响底部填充胶流动性的因素有很多，在平行的测试条件下，下面有些可以检讨的因素： 1）粘度：毋庸置疑粘度肯定是影响流动速度较关键的因素之一，目前像粘度在几百cps的胶水基本上都是可以不需要预热点胶的，填充速度基本上都是一两分钟以内的；而像粘度稍大一些的达到几千cps的胶差别就比较大了（从几分钟到十几分钟不等）； 2）预热温度：这也是一个非常关键的影响因素，尤其是对一些粘度在一千以上的胶水，一般在预热（预热温度就需要结合各家的产品的特性，一般可以胶水的粘温曲线做参考，当并非一一直接对应的关系）的情况下，粘度为几千的胶水能降到几百，流动性会明显增大，但要注意预热温度过高过低都可能会导致流动性变差； 3）基板的差别（芯片的尺寸及锡球的分布、锡球球径及数量、锡球间距、助焊剂残留、干燥程度等），这个对填充速度也是有一定影响的，在某些情况下影响也是非常明显的。当然这些差别对另一个底填胶的指标影响更大，后面会细说。当然如果是几种胶水平行测试，这个因素的影响是一致的。底部填充胶较大提高了电子产品的可靠性。天津电池保护板底部填充胶水

PoP底部填充胶的点胶工艺解析。淄博车载bga填充胶厂家

底部填充胶在使用过程中，出现空洞和气隙是很普遍的问题，出现空洞的原因与其封装设计和使用模式相关，典型的空洞会导致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性，以及如何对它们进行测试，将有助于解决底部填充胶underfill的空洞问题。 了解空洞的特性有助于将空洞与它们的产生原因相联系，其中包括： 1.形状——空洞是圆形的还是其他的形状？ 2.尺寸——通常描述成空洞在芯片平面的覆盖面积。 3.产生频率——是每10个器件中出现一个空洞，还是每个器件出现10个空洞？空洞是在特定的时期产生，还是一直产生，或者是任意时间产生？ 4.定位——空洞出现在芯片的某个确定位置还是任意位置？空洞出现是否与互连凸点有关？空洞与施胶方式又有什么关系？淄博车载bga填充胶厂家