珠海手机射频测试

时间:2023年05月25日 来源:

早起在射频探针出现之前,由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法,因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏,引发各种问题。早期的射频探针使用的是共面陶瓷材料,而陶瓷不能太弯曲,因而压触的弹性范围并不大,同时支持的射频频率也较低,首先出现的探针只覆盖到18GHz。在差不多三十年的时间里,射频探针技术便取得了长足的进步,从低频测量到适用多种应用场合的商用方案:如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配,多端口,差分和混合信号的测量装置,连续波模式中直到60W的高功率测量,以及直到1.1THz的太赫兹应用,都能见到射频探针的身影。射频测试电路性能,需要把信号传导到某类传输线上,需要至少两个探针导体,即“信号导体”和“地导体”。珠海手机射频测试

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射频测试中会有哪些专业术语呢?如1、功率/电平(dBm):放大器的输出能力,一般单位为w、mw、dBm注:dBm是取1mw作基准值,以分贝表示的功率电平。换算公式:电平(dBm)=10lgw5W→10lg5000=37dBm10W→10lg10000=40dBm20W→10lg20000=43dBm从上不难看出,功率每增加一倍,电平值增加3dBm2、增益(dB):即放大倍数,单位可表示为分贝(dB)。即:dB=10lgA(A为功率放大倍数)3、插损:当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减,单位用dB表示。4、选择性:衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽,-40dB、-60dB同理。5、驻波比(回波损耗):行驻波状态时,波腹电压与波节电压之比(VSWR)等。南昌WIFI射频测试仪射频测试性能包括发射/带内功率、调制一致性、带内杂散、发送频谱密度以及相位噪声等。

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射频测试的范围有哪些?雷达、行波管、CATV接收机都属于射频测试的范围。频段主要是快速准确的传递信息,克服了距离的障碍。它是无线通信的关键技术,是传递信息的载体。射频可以辐射到空间的电磁频率,也称为射频系统。射频是一种随时间变化的时变电磁波。射频无处不在,无论是WI-FI、蓝牙、GPS、NFC(近场通信)等。是需要的。现在射频技术广泛应用于无线通信领域,如RFID、基站通信、卫星通信等。在电磁场理论中,通电导体周围会形成磁场;交流电通过导体周围会形成交变电磁场,这也是电磁波的定义。

当频率低于100kHz时,地球表面由于波长较长,相当于高损耗介质,电磁能量的快速衰减无法形成有效传输。当频率高于100kHz时,电磁波波长较短,可以在空气中传播很远,并被电离层反射,形成远距离传输能力,所以我们把具有远距离传输能力的高频电磁波称为射频。目前,射频测试工程师是各种制造环境和先进射频产品项目中开发团队不可或缺的一部分。

射频测试中的“射频”可以用在哪些方面?射频能量的非通信应用是微波炉等,其中射频能量用于加热食物。此外,射频能量可用于工业加热和密封。工业加热器和封口机产生射频辐射,以与微波炉烹饪食物相同的方式快速加热正在加工的材料。射频能量还用于塑料材料成型、粘合木制品、密封鞋子和钱包等物品以及加工食品等行业。其他工业应用包括测试射频元件和测量材料密度。雷达是另一种使用射频能量的有价值的工具,被用于交通执法、空中交通管制、天气监测应用等众多应用中。射频测试探针和天线所适用的测试类型不同,但是两者在射频设备和元件的特性、一致性和质量测试中都很重要。

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即使射频测试和微波测试系统的集成化程度越来越高,但是连接被测器件(DUT)和测试系统的测试电缆组件依然需要由测试者来操作连接,至少到目前为止,尚无任何迹象表明射频连接器件会产生改变性的变革。如果你所从事的工作是射频测试和测量,则无论是哪个细分领域,本书中所描述的器件对你来说存在两种意义--一类是必须了解的,每天都要直接面对的器件,如测试电缆组件和转接器、天线、衰减器、滤波器、放大器等;另一类可能你不会直接面对,但是在你的测试系统内部起着重要的作用的器件,如定向耦合器和功率分配器、隔离器和环流器等,了解这些器件的属性可以让你对测试系统有更深的理解,从而更好地完成你的测试任务。而本书中所描述的测试应用部分,即可在你有了相关的自动化测试系统,了解了测试原理后就可以帮助你更好地理解和使用这些测试系统。射频测试的脉冲测试中,需要知道脉冲信号是雷达系统基础、常见的信号形式。南昌WIFI射频测试仪

射频功率的测量方法有:频谱分析仪测量、吸收式功率测量、吸收式功率测量等。珠海手机射频测试

人们早采用射频测试探针技术与现在的工具是很不相同的,早期探针使用了由一个很短的线极尖(wire tip)而逐渐收敛的50-Ω微带线,通过探针基片上一个小孔而与被测器件(DUT)的压点(pad)相接触。此时,其技术难度在于如何突破4GHz时实现可重复测量。虽然有可能通过校准过程来剔除一个接触线极尖相对较大的串联电感的影响,但当圆晶片的夹具被移动时,线极尖的辐射阻抗会有较大的变化。高频测量使用的极尖设计与用于直流和低频测量的极尖不同,而且必须使50-Ω环境尽可能地接近于DUT压点。珠海手机射频测试

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