南昌RFID射频信号测试

时间:2023年09月05日 来源:

为什么我们需要射频测试?由于全球射频应用众多,因此有的涉及射频能量的产品和系统必须在其电磁环境中运行,并且不会将无法容忍的电磁干扰引入环境中。因此,在产品或系统投放市场之前,必须对其进行射频抗扰度和发射测试,才能在市场上更好地发挥它的作用。对于射频抗扰度测试,设备暴露在射频干扰和场中,其场强和频率范围在其操作环境中表示。当对一台设备进行射频发射测试时,在正常操作下,该设备会受到射频干扰和场的检测。射频或“RF”能量是电磁能的一种形式,被定义为由发射天线发射的电能和磁能在空间中一起移动的波。南昌RFID射频信号测试

做射频测试工程师有什么要求呢?1、在产品开发初期对射频硬件板卡进行可测性分析,提出可测试性的建议,与研发共同确定单板(单元)的功能测试方案2、与研发人员共同开发制造测试规格,根据临界性能参数,保证产品在规格公差内是可以再生产的。3、设计/参与设计数字单板(单元)的功能测试软硬件环境。4、提高单板(单元)的整体测试覆盖率。5、协助系统测试开发工程师解决系统测试时和单板(单元)相关的问题,并根据系统测试的要求完善功能测试环境。6、协助结构工程师进行测试机框、夹具等的设计工作。7、根据产品性能和产能等产品化要求,完成单板(单元)的工序设计。8、编制和完善相关的测试工艺文件。9、按照模具、工装夹具、程序、生产文档等执行试生产要求,完成产品的小批量试制和中试,及时反馈此过程中出现的问题,并协助研发解决。南昌RFID射频信号测试射频测试中的发射机测试,其很关键的是功率和频率。

手机出现的目的是为了沟通,而这个沟通是在射频上实现的,因此对于射频来说,也就是需要有实现发射信息的发射机和接收信息的接收机了;相应的射频测试也就分为发射机测试和接收机测试了。对于发射机测试,就像我们衡量一个人说话一样:每个人的说话声音的高低不一样,而我们发射机发射出去的功率可能也不一样,因此需要测试其功率;同样是说普通话,南方人说话和北方人说话可能也不一样,而不同的发射机发出去的调制指标可能就不一样,因此我们需要对其调制进行测试;如果是很多人同时发表演讲,可能就会造成彼此干扰,我们就让他们在不同的房间里进行演讲,但是仍受房间与房间之间隔音效果的影响,同样多台发射机同时发射的时候也会造成彼此的干扰,因此我们需要对发射机的频谱进行测试。除此之外,对于采用技术的通信系统,我们还需要对码域进行测试。所以,概括的讲,我们目前手机的射频发射机的测试也就是:功率测试,调制测试,频谱测试和码域测试。

什么是射频?射频,英文名简称为RF,全称是RadioFrequency。RadioFrequency是无线电频率的意思。通常来讲,射频是指频率范围在300KHz~300GHz的高频电磁波。那什么是射频信号?通常来讲,电流通过导体,会形成磁场,交变电流通过导体,会形成电磁场,产生电磁波。频率低于100kHz的电磁波会被地表吸收,不能形成有效的传输。频率高于100kHz的电磁波可以在空气中传播,并经大气层外缘的电离层反射,具有远距离的传输能力,这种具有远距离传输能力的高频电磁波,我们称之为射频信号。射频RF 测试有助于评估产品发出的辐射,这些辐射也必须在可接受的范围内才能获得监管合规性。

射频测试的范围有哪些?雷达、行波管、CATV接收机都属于射频测试的范围。频段主要是快速准确的传递信息,克服了距离的障碍。它是无线通信的关键技术,是传递信息的载体。射频可以辐射到空间的电磁频率,也称为射频系统。射频是一种随时间变化的时变电磁波。射频无处不在,无论是WI-FI、蓝牙、GPS、NFC(近场通信)等。是需要的。现在射频技术广泛应用于无线通信领域,如RFID、基站通信、卫星通信等。在电磁场理论中,通电导体周围会形成磁场;交流电通过导体周围会形成交变电磁场,这也是电磁波的定义。

当频率低于100kHz时,地球表面由于波长较长,相当于高损耗介质,电磁能量的快速衰减无法形成有效传输。当频率高于100kHz时,电磁波波长较短,可以在空气中传播很远,并被电离层反射,形成远距离传输能力,所以我们把具有远距离传输能力的高频电磁波称为射频。目前,射频测试工程师是各种制造环境和先进射频产品项目中开发团队不可或缺的一部分。 多终端蓝牙射频测试系统主要包括:蓝牙综合测试仪、天线或射频线缆、控制电脑、屏蔽箱和被测物。南昌RFID射频信号测试

射频功率的测量方法有:频谱分析仪测量、吸收式功率测量、吸收式功率测量等。南昌RFID射频信号测试

人们早采用射频测试探针技术与现在的工具是很不相同的,早期探针使用了由一个很短的线极尖(wire tip)而逐渐收敛的50-Ω微带线,通过探针基片上一个小孔而与被测器件(DUT)的压点(pad)相接触。此时,其技术难度在于如何突破4GHz时实现可重复测量。虽然有可能通过校准过程来剔除一个接触线极尖相对较大的串联电感的影响,但当圆晶片的夹具被移动时,线极尖的辐射阻抗会有较大的变化。高频测量使用的极尖设计与用于直流和低频测量的极尖不同,而且必须使50-Ω环境尽可能地接近于DUT压点。南昌RFID射频信号测试

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