北京集成电路芯片测试机定制

时间:2024年03月26日 来源:

半导体工程师,半导体经验分享,半导体成果交流,半导体信息发布。半导体行业动态,半导体从业者职业规划,芯片工程师成长历程。芯片测试是极其重要的一环,有缺陷的芯片能发现的越早越好。在芯片领域有个十倍定律,从设计-->制造-->封装测试-->系统级应用,每晚发现一个环节,芯片公司付出的成本将增加十倍!!!所以测试是设计公司尤其注重的,如果把有功能缺陷的芯片卖给客户,损失是极其惨重的,不只是经济上的赔偿,还有损信誉。因此芯片测试的成本也越来越高!通过对芯片测试机的工作原理的了解,我们可以知道芯片测试机的概念、测试流程、机构成以及测试模式等。北京集成电路芯片测试机定制

测试计划书:就是test plan,需要仔细研究产品规格书,根据产品规格书来书写测试计划书,具体的需要包含下面这些信息:a)DUT的信息,具体的每个pad或者pin的信息,CP测试需要明确每个bond pads的坐标及类型信息,FT测试需要明确封装类型及每个pin的类型信息。b)测试机要求,测试机的资源需求,比如电源数量需求、程序的编写环境、各种信号资源数量、精度如何这些,还需要了解对应的测试工厂中这种测试机的数量及产能,测试机费用这些。c)各种硬件信息,比如CP中的probe card, FT中的load board的设计要求,跟测试机的各种信号资源的接口。d)芯片参数测试规范,具体的测试参数,每个测试项的测试条件及参数规格,这个主要根据datasheet中的规范来确认。e)测试项目开发计划,规定了具体的细节以及预期完成日期,做到整个项目的可控制性和效率。北京CMOS芯片测试机市价设计和制造的冗余度越高,越能提供成品的良率。

s4:当自动上料装置40的一个tray盘中的待测试芯片全部完成测试,且自动下料装置50的空tray盘中放满测试合格的芯片后,移载装置20将自动上料装置40的空tray盘移载至自动下料装置50。当自动上料装置40的位于较上方的tray盘中的50个芯片全部完成测试后,且该50个芯片全部都是合格品,则此时自动下料装置50的tray盘中放满50个测试合格的芯片。则通过移载装置20将自动上料装置40的孔的tray盘移载至自动下料装置50上,且将该tray盘放置于自动下料装置50的放置有50个芯片的tray盘的上方。

做一款芯片较基本的环节是设计->流片->封装->测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5% 测试其实是芯片各个环节中较“便宜”的一步,在这个每家公司都喊着“Cost Down”的激烈市场中,人力成本逐年攀升,晶圆厂和封装厂都在乙方市场中“叱咤风云”,唯独只有测试显得不那么难啃,Cost Down的算盘落到了测试的头上。但仔细算算,测试省50%,总成本也只省2.5%,流片或封装省15%,测试就相当于不收费了。但测试是产品质量然后一关,若没有良好的测试,产品PPM过高,退回或者赔偿都远远不是5%的成本能表示的。Function TEST: 测试芯片的逻辑功能。

本实施例的测试装置30包括测试负载板31、测试座外套32、测试座底板33、测试座中间板34及测试座盖板35。测试座外套32固定于测试负载板31上表面,测试座底板33固定于测试座外套32上,测试座中间板34位于测试座底板33与测试座盖板35之间,测试座底板33与测试座盖板35通过定位销36连接固定。部分型号的芯片在进行测试前,需要进行高温加热或低温冷却,本实施例在机架10上还设置有加热装置。如图2所示,该加热装置至少包括高温加热机构70,高温加热机构70位于测试装置30的上方。如图8所示,高温加热机构70包括高温加热头71、头一移动机构72及下压机构73,下压机构73与头一移动机构72相连,高温加热头71与下压机构73相连。FT测试属于芯片级测试,是通过测试板和测试插座使自动化测试设备与封装后的芯片之间建立电气连接。上海PT-168M芯片测试机

芯片测试机是一种用于检测芯片表面缺陷的设备。北京集成电路芯片测试机定制

芯片测试的目的及原理介绍,测试在芯片产业价值链上的位置,如下面这个图表,一颗芯片较终做到终端产品上,一般需要经过芯片设计、晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试、板级封装等这些环节。在整个价值链中,芯片公司需要主导的环节主要是芯片设计和测试,其余的环节都可以由相应的partner来主导或者完成。所以,测试本身就是设计,这个是需要在较初就设计好了的,对于设计公司来说,测试至关重要,不亚于电路设计本身。RF Test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。北京集成电路芯片测试机定制

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