广东崛场粒度电位仪应用

激光粒度仪的保养程度，对检测结果有较大影响。激光粒度仪需要定期标定维护。在实际的使用过程中发现，部分样品极易在测试过程中附着在仪器的管路内部，从而混入之后的测试样品中带来测试误差。而仪器自带的清洗功能很难解决这类问题，需要在激光粒度测量中引起足够重视。激光粒度仪需要注意反常异动现象，有些折射率下对于部分粒径区间，随着粒径的变小，散射光强分布主峰会向探测器内侧移动，而正常情况下应向探测器外侧移动，从而影响粒度检测的结果。这种现象被称为散射光能分布的反常移动现象。纳米粒度仪具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性。广东崛场粒度电位仪应用

激光粒度分析仪选购方法有哪些？使用完全的米氏理论，因为米氏光散理论非常复杂，数据处理量大，所以有些厂家忽略颗粒本身折光和吸收等光学性质，采用近似的米氏理论，造成适用范围受限制，漏检几率增大等问题。准确性和重复性指标，越高越好。采用NIST标准粒子检测。稳定性，仪器稳定性包括光路的稳定性和分散系统的稳定性和周围环境的影响。一般来讲选用气体激光器，使用光学平台，有助于光路的稳定。内部发热部件(如50瓦的钨灯)将影响光路周围环境。稳定性指标在厂家仪器说明中没有，用户只能凭对于仪器结构的判断和参观或询问其他长时间使用过的用户来判断。深圳粒度仪生产过程粒度分析仪的信息要求是指给出结果的表达方式。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪技术参数：粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）；粒径测定范围：0.3nm ～10μm；粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）；Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法；Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV；分子量测量原理：Debye plot；分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da；测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）；样品量：12μL ～ 1000μL。HORIBA 科学仪器事业部为您提供HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪的参数、价格、型号、原理等信息，HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪产地为日本、品牌为HORIBA科学仪器事业部，型号为SZ-100 V2，价格为40万-50万RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务。

LA-350-紧凑型激光粒度仪产品详情：1.测量范围：0.1 - 1,000 μm适用于宽范围的应用，拥有可以匹敌多款其他全范围系统的高性能。2.紧凑的尺寸：实验室拥挤？经常搬来搬去？紧凑的尺寸设计节省了工作台的空间，可以将仪器搬运到不同的位置或者是寄运到不能采购分析仪的外部场所进行现场测试。3. 快速的分析：高精度光学设计和演算法可以简单三步给出测量结果：点击按钮，加入样品，查看结果。只十秒钟就可获得测量数据。4.强大的软件：LA-350使用和其他LA系列相同的功能齐全软件包，提供宽范围统计测量，数据分析和展示工具。5. 简单的操作：自动校正，用于样品分散的内置超声系统，和强力泵水系统，结合软件的自动化特点，用LA-350分析样品非常简单。样品测量可一键操作。麦奇克S3500系列激光粒度分析仪能够实时监测并量化样品中混入的杂质。

用户选择粒度仪主要依据有以下几点：1，所测的粉体的粒度范围：1μm；2，用于常规检验的检测量数量很大，应选择快速、可靠、操作方便、并对生产过程有一定指导意义的粒度仪，当然还应了解用户的粉体在国内外销售的主要客户的要求，或说历史上遗留的约定方法；3，如果检测量不大，粒度>5μm，可选用设备便宜的方法，如移液管法等重力沉降法；4，取样问题。如样品贵贱、取样是否有代表性、取样方法、样品的分散难易程度等；5，有时还应考虑所测粉体的性质及应用场合，如混合粉，只能用显微镜、电镜或图像方法测；有的待测对象是雾珠、气溶胶等，则必须选特定的方法。激光粒度仪用于建筑材料生产质量控制，降低生产成本，提高产品质量，减少能耗方面均有极大的作用。广东崛场粒度电位仪应用

激光粒度分析仪测量范围粒度范围宽，适合的应用广。广东崛场粒度电位仪应用

在选择激光粒度仪时要特别注意光源，光源主要有氦氖气体激光器和半导体固体激光器两种，氦氖激光器具有线宽窄，单色性极好，不受供电电压波动及温度变化的影响，稳定性高，特别是近些年来密封等技术的发展，其使用寿命有了很大提高，被一些高级仪器采用。而半导体激光器具有体积小，供电电压低，使用寿命较长，相对氦氖激光器而言价格低等优点，但其单色性差，线宽宽，稳定性易受温度变化及供电电源波动的影响等缺点也限制了它在仪器中的应用，当然可以预见的是随着半导体光源技术的提高，半导体固体激光器将会被更多的使用于粒度仪。广东崛场粒度电位仪应用

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