广州台式D2 Phaser工作原理

XRD设备的使用能为客户解决的问题如下：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法（谢乐法）可以测定纳米粒子的平均粒径。XRD设备可以应用于多个行业，并提供简单、直接的相分析。广州台式D2 Phaser工作原理

XRD设备特点有哪些？1.样品的自动校准、测量和分析；2.测量的自动化程度由用户定义；3.使用300毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描；4.全300mm晶圆水平贴装和映射；5.由于100°倾斜（Chi）和无限方位角旋转（Phi），可以进行极点图和残余应力测量；6.根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置；7.先的设备控制和分析软件；8.使用高分辨率测角仪进行测量；9.高的强度光源和光学元件可实现快速测量；10.可用的技术和参数范围广；11.由拥有30多年经验和庞大的安装基础的高分辨率X射线衍射领域的**打造。广东便携式D2 Phaser仪器原理XRD设备具有检测速度快和检测结果准确的特性。

XRD设备的检测项目如下：用于测定无机物、有机物及配位化合物（晶体状态）分子的准确三维立体结构，通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，是对化合物直接、可靠的鉴定，具体测试项目如下：扫描时间=（扫描角度/扫描速率）1.XRD-精扫：主要是对于扫描速率低于1的样品，常规扫描的速率一般大于1.2.XRD-常规广角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在5°-90°的样品.2.XRD-常规广角测试（10min-20min）：指的是扫描时间10min-20min，扫描角度在5°-90°的样品.3.XRD-常规广角测试（20min-30min）：指的是扫描时间20min-30min，扫描角度在5°-90°的样品.4.XRD-常规小角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在0.6°-90°的样品。

X射线单晶衍射仪其主要特点如下：1.同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。2.新一代的lus3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。3.液态金属靶MetalJET，室内X射线光源，强度远。4.远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂，解决难的晶体学问题，比如GPCR膜蛋白的结构。5.采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTONIIIMMPAD混合光子计数探测器，6.超大面积，超快速度，零噪音，单光子检测的灵敏度。7.双靶配置，软件自动切换光源。满足不同类型的研究需要。元件自动识别，智能化光路管理。8.新一代的APEX3/PROTEUM3软件，功能强大，智能化程度高，轻松操控仪器，获得好数据。微焦斑光源，零维护，性能超越微焦斑转靶。XRD设备操作的注意事项：操作时必须严格按规程操作。

X射线衍射仪采用创造性的设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量（XRR）、高分辨测量（HRXRD）、掠入射（GID）、面内掠入射（IP-GID）、小角散射（SAXS）以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD（HRXRD），外延多层膜厚度，晶胞参数，晶格错配，组份，应变及弛豫过程，横向结构，镶嵌度，X射线反射率（XRR），薄膜厚度，组份，密度，粗造度，孔隙度。XRD设备能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。粉末衍射仪仪器原理

使用X射线衍射仪前要预热，操作完后要进行清洗。广州台式D2 Phaser工作原理

X射线衍射仪基本构造中主要部件包括4个部分。（1）高稳定度X射线源，提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2）样品及样品位置取向的调整机构系统，样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。（3）射线检测器，检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。（4）衍射图的处理分析系统，现代X射线衍射仪都附带安装有专门使用衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。广州台式D2 Phaser工作原理

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