XRD使用步骤
XRD,X射线衍射仪:X射线衍射仪的英文名称是X-rayPowderdiffractometer简写为XPD或是XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称是X-raypolycrystallinediffractometer简写仍为XPD或XRD。X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,主要部件包括4部分。(1)高稳定度X射线源,提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2)样品及样品位置取向的调整机构系统,样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。(3)射线检测器,检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。(4)衍射图的处理分析系统,现代X射线衍射仪都附带安装有专门使用衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。XRD设备支持所有基于X射线衍射和散射的材料研究应用。XRD使用步骤
XRD设备的使用可以为实验提供便利,提供可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性:XRD与XRF技术集成,在每次检测中,能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据,提供物质成分、物相及结构信息,从而促进检测结果更加精确。简便性:仪器一键式操作,无需校正,自动检测,无需额外注意高压系统和水循环冷却系统(仪器无额外高压和水循环冷却系统)。制样简单:单次分析只需要15毫克左右的样品即可获得优良的检测结果,样品制备无需制片、压片、刮平等,3分钟即可完成样品制样(粉碎、滤筛、装样)。广州XRD公司推荐XRD设备适合任何用户(包括新手或**)使用。
XRD设备的检测项目如下:用于测定无机物、有机物及配位化合物(晶体状态)分子的准确三维立体结构,通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况,是对化合物直接、可靠的鉴定,具体测试项目如下:扫描时间=(扫描角度/扫描速率)1.XRD-精扫:主要是对于扫描速率低于1的样品,常规扫描的速率一般大于1.2.XRD-常规广角测试(10min以下):指的是扫描时间低于10min,扫描角度在5°-90°的样品.2.XRD-常规广角测试(10min-20min):指的是扫描时间10min-20min,扫描角度在5°-90°的样品.3.XRD-常规广角测试(20min-30min):指的是扫描时间20min-30min,扫描角度在5°-90°的样品.4.XRD-常规小角测试(10min以下):指的是扫描时间低于10min,扫描角度在0.6°-90°的样品。
X射线衍射技术(XRD)的发现距今以及有多年,现如今,它已经是材料科学中基本的表征手段。通过XRD测试,我们可以知道材料的结构、晶胞参数和问题情况等。X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时,会受晶体中原子的影响出现衍射现象。每种晶体内部的原子排列方式是独一的,因此对应的衍射花样是独一的,从而可以进行物相分析。布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射需要满足的基本条件,其反映了衍射线方向和晶体结构之间的关系。布拉格方程:2dsinθ=nλ。其中,θ为入射角、d为晶面间距、n为衍射级数、λ为入射线波长,2θ为衍射角。X射线发生系统(产生X射线)是“太阳”,测角及探测系统(测量2θ和获得衍射信息)是其“眼睛”,记录和数据处理系统是其“大脑”,三者协同工作,输出衍射图谱。X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。XRD检测速度很快,可普遍应用于工业检测。
XRD设备的主要功能及特色如下:应用于晶体物质定性和定量相分析,结晶学分析,结构解析、织构和残余应力分析等;可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、薄膜等片状、块状、粉末状固体。能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。配备lynxeye超能检测器,使检测灵敏度提高一个量级,可以达到或超出旋转阳极靶的效果。新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数。深圳XRD厂家联系方式
XRD设备是重要的无损分析工具。XRD使用步骤
XRD设备概述如下:X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时,会受晶体中原子的影响出现衍射现象。每种晶体内部的原子排列方式是独一的,因此对应的衍射花样是独一的,从而可以进行物相分析。XRD设备可以进行数据传输:仪器通过USB,蓝牙,WIFI与笔记本电脑实现高速连接,实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。良好的环境适应性:专为地质考察而研制,仪器可防雾、防尘、防震动,能适应恶劣的使用环境。安全性:专业的多重防护辐射处理,测量时仪器多方位无任何辐射泄漏。XRD使用步骤
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