德国X射线衍射仪工作原理

XRD可以应用的领域广，可普遍应用于工业检测。检测速度相当快。XRD的测试原理是布拉格方程，即n=2*d*sin，其中为入射光线的波长，d为晶面间距，为衍射角。换句话说，XRD是测试晶体结构的有效手段。由于晶体有其独特的晶体学特征，即空间晶格，14种Bravais晶格是其晶格类型，晶面参数有限。XRD是X射线衍射的简称，X射线衍射。通过分析材料。x射线衍射，分析其衍射图，获取材料成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。x射线是一种短波长(约20 ~ 0.06埃)的电磁波，可以穿透一定厚度的材料。XRD设备的使用可准确显示当前的仪器状态。德国X射线衍射仪工作原理

XRD设备的原理是怎么样的？XRD衍射仪X射线产生原理：X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流（γ射线、中子流等）流与其他物质发生碰撞时骤然减速，且与该物质中的内层原子相互作用而产生的。不同的靶材，因为其原子序数不同，外层的电子排布也不一样，所以产生的特征X射线波长不同。使用波长较长的靶材的XRD所得的衍射图峰位沿2θ轴有规律拉伸；使用短波长靶材的XRD谱沿2θ轴有规律地被压缩。但需要注意的是，不管使用何种靶材的X射线管，从所得到的衍射谱中获得样品面间距d值是一致的，与靶材无关。便携式XRD应用原理XRD设备检测的样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

XRD设备的注意事项：（1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。（2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。（3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。（4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。

XRD设备简介：仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。XRD设备的送样要求：1）粉末样品：颗粒度在10微米以下；块体、薄膜样品：表面打磨平滑，厚度不超过5毫米；尺寸不超过2厘米(平台不提供制样)。2）信息要求：若需样品成分分析，需提供体系可能含有的全部元素。XRD设备的特点：操作简单。

XRD设备的优势：便携式：仪器采用防水设计，无任何机械移动部件，轻便，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性：XRD与XRF 技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精确。简便性：仪器一键式操作，无需校正，自动检测，无需额外注意高压系统和水循环冷却系统（仪器无额外高压和水循环冷却系统）。制样简单：单次分析只需要15毫克左右的样品即可获得优良的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。XRD设备的使用可以满足不同类型的研究需要。台式D8 Discover应用原理

XRD设备的注意事项：固体样品的表面必须平整。德国X射线衍射仪工作原理

X射线衍射仪采用创造性的设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)，外延多层膜厚度，晶胞参数，晶格错配，组份，应变及弛豫过程，横向结构，镶嵌度，X射线反射率(XRR)，薄膜厚度，组份，粗造度，密度，孔隙度。德国X射线衍射仪工作原理

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