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XRD 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？样品中晶粒越小，衍射峰的峰高的强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用 X 射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer 公式）。晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位, 但是微小的颗粒能产生散射。你磨的越细 , 散射就越强.。对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，会变成 1 个或几个"鼓包"。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些，因为 d 值大的晶面容易被破坏。XRD设备操作的注意事项：操作时必须严格按规程操作。深圳D8 Advance商家

高分辨率 XRD ，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成。在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中。自动样品校准、测量、分析和报告。倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析。可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描。样品要求：粉末样品请准备至少20mg，0.1g以上较好，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。广州D8 DiscoverXRD设备检测的样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

XRD设备是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需**设置工具以供使用。得益于出色的分辨率、低角度和低背景，XRD设备是从相识别、定量相分析到晶体结构分析的所有粉末衍射应用的理想解决方案。XRD设备能在整个角度范围内，保证实现精确的仪器对准（精度等于或优于±0.02°2θ）。加上遵循着严格的仪器验证协议，它可为所有应用提供精确数据。

XRD设备组成：X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，主要部件包括4部分。（1）高稳定度X射线源，提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2）样品及样品位置取向的调整机构系统，样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。（3）射线检测器，检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。（4）衍射图的处理分析系统，现代X射线衍射仪都附带安装有专门使用衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。

X射线衍射仪的英文名称是X-rayPowderdiffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-raypolycrystallinediffractometer简写仍为XPD或XRD。那么为什么XRD数据的峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？因为样品的衍射峰强度主要跟样品本身的结晶度有关，其次跟样品量以及仪器的功率都有关系。X射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质结构表征，以性能为导向研制与开发新材料， 宏观表象转移至微观认识，建立新理论和质量控制不可缺少的方法。XRD设备注意事项：对涉及安全的X射线衍射仪设备，操作时应有必要的隔离措施和警示标志。德国进口X射线衍射仪代理商

为什么XRD测试要求薄膜（块体）样品尺寸要合适？深圳D8 Advance商家

XRD设备特点：1.样品的自动校准、测量和分析；2.测量的自动化程度由用户定义；3.使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描；4.全300mm 晶圆水平贴装和映射 ；5.由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量；6.根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置；7.先的设备控制和分析软件；8.使用高分辨率测角仪进行测量；9.高的强度光源和光学元件可实现快速测量；10. 可用的技术和参数范围广；11.由拥有 30 多年经验和庞大的安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的**打造。深圳D8 Advance商家

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