深圳D8 Discover参数

X射线衍射仪采用创造性的设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)，外延多层膜厚度，晶胞参数，晶格错配，组份，应变及弛豫过程，横向结构，镶嵌度，X射线反射率(XRR)，薄膜厚度，组份，粗造度，密度，孔隙度。XRD设备特点：零噪音， 单光子检测的灵敏度。深圳D8 Discover参数

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。 X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。X射线的波长较短,大约在10-8～10-10cm之间。当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关不同的晶体物质具有自己独特的衍射样,这就是X射线衍射的基本原理。深圳布鲁克X射线衍射仪商家XRD设备的应用面十分普遍。

XRD分析仪：1.可以获得更高的灵敏度、更快的分析速度以及更可靠的结果。升级后的X射线探测器硬件运行速度提高33％，并且强度更高，从而降低了LOD。SwiftMin自动相识别和定量软件可直接在X射线衍射分析仪上显示实时数据，可以使用户能够快速可靠做出决策。2.配有独具特色的小型样品托架，因此成为传统X射线衍射仪方便携带、轻便且几乎无需维护的替代品。采用NASA技术的振动样品托架可让样品腔内的所有颗粒物实现对流，从而确保数据几乎不受取向效应影响。只需15毫克样品即可，并且使用随附取样套件即可轻松获得样品。3.同时获得定量XRD和定性XRF数据，专门设计的直接激励电荷耦合器件（CCD）可同时检测光子位置和能量，从而让分析仪能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据。

XRD设备的检测项目：用于测定无机物、有机物及配位化合物（晶体状态）分子的准确三维立体结构，通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、 构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，是对化合物直接、可靠的鉴定，具体测试项目如下： 扫描时间=（扫描角度/扫描速率） 1.XRD-精扫：主要是对于扫描速率低于1的样品，常规扫描的速率一般大于1.2.XRD-常规广角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在5°-90°的样品.2.XRD-常规广角测试（10min-20min）：指的是扫描时间10min-20min，扫描角度在5°-90°的样品.3.XRD-常规广角测试（20min-30min）：指的是扫描时间20min-30min，扫描角度在5°-90°的样品.4.XRD-常规小角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在0.6°-90°的样品。X射线衍射仪采用创造性的设计。

为什么XRD测试要求薄膜（块体）样品尺寸要合适？因为放置薄膜（块体）样品的样品台尺寸是固定的，用橡皮泥来固定样品，样品太大放不进去，样品台小不好固定。XRD设备支持所有基于X射线衍射和散射的材料研究应用，包括定性和定量相分析、结构分析、高分辨率X射线衍射、反射率测量、倒易空间扫描、掠入射衍射（面内GID）、掠入射小角X射线散射（GISAXS）、应力分析和织构分析以及微区衍射，具体取决于使用的附件。无论面对何种应用，XRD设备都会指引用户选择较佳的仪器配置。XRD 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？进口德国D8 Advance供应商

XRD分析仪的使用可以使用户能够快速可靠做出决策。深圳D8 Discover参数

XRD设备的注意事项：对应的衍射花样是独一的，从而可以进行物相分析。XRD可以应用的领域广，可普遍应用于工业检测。检测速度相当快。XRD是X射线衍射的简称，X射线衍射。通过分析材料。x射线衍射，分析其衍射图，获取材料成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。x射线是一种短波长(约20 ~ 0.06埃)的电磁波，可以穿透一定厚度的材料。为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？主要是因为粉末样品要铺满整个样品台，不然X射线可能会打在样品台上，影响数据质量。深圳D8 Discover参数

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