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XRD设备的主要功能及特色：应用于晶体物质定性和定量相分析，结晶学分析，结构解析、织构和残余应力分析等；可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、薄膜等片状、块状、粉末状固体。能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。配备lynxeye 超能检测器，使检测灵敏度提高一个量级，可以达到或超出旋转阳极靶的效果。XRD设备的使用可准确显示当前的仪器状态。深圳进口D2 Phaser参数

XRD设备的使用可为客户解决的问题：（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。深圳进口D2 Phaser参数XRD设备的使用可以满足不同类型的研究需要。

XRD设备具备多种功能，射线衍射仪主要功能：1.●TWIN/TWIN光路。获得的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。2.●动态光束优化（DBO）。独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无法比拟的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。

XRD设备简介：仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。XRD设备的送样要求：1）粉末样品：颗粒度在10微米以下；块体、薄膜样品：表面打磨平滑，厚度不超过5毫米；尺寸不超过2厘米(平台不提供制样)。2）信息要求：若需样品成分分析，需提供体系可能含有的全部元素。为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？

XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。因此，通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）…等等，应用面十分普遍。XRD设备注意事项：必须严格按照操作规程，尽量减少故障的发生。深圳进口D8 Advance供应商

XRD分析仪的使用可以使用户能够快速可靠做出决策。深圳进口D2 Phaser参数

XRD设备的检测项目：用于测定无机物、有机物及配位化合物（晶体状态）分子的准确三维立体结构，通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、 构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，是对化合物直接、可靠的鉴定，具体测试项目如下： 扫描时间=（扫描角度/扫描速率） 1.XRD-精扫：主要是对于扫描速率低于1的样品，常规扫描的速率一般大于1.2.XRD-常规广角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在5°-90°的样品.2.XRD-常规广角测试（10min-20min）：指的是扫描时间10min-20min，扫描角度在5°-90°的样品.3.XRD-常规广角测试（20min-30min）：指的是扫描时间20min-30min，扫描角度在5°-90°的样品.4.XRD-常规小角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在0.6°-90°的样品。深圳进口D2 Phaser参数

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