宿迁ICP-OES质谱仪

时间:2024年01月25日 来源:

 质谱仪的真空度不能过低。过低会导致:1)大量氧会烧坏离子源的灯丝;2)引起额外的离子-分子反应,使质谱解析复杂化;3)可能会引起分析系统内的电极之间放电;4)会使本底增高。2.该质谱仪自身带有磁场,且对外来磁场较敏感,故维修时不要带入磁场,也不要移动,特别是对磁体不要有任何碰撞。3.因电离室对真空要求较高,除机械真空泵工作外,该质谱仪还设计有分子泵,故在非工作时间,须将该机械真空泵保持工作状态。4.质谱仪对工作环境有较高要求,所以室内必须有空调,并保持室内通风。5.为保证机器正常,载气(He)的纯度须达99.99%以上。6.更换灯丝前必须关掉机械真空泵,待恢复常压时拆机,如遇市电停供,须将机械真空泵开机至正常状态,并达24小时以上,才能进行正常的检测工作。上海禹重实业有限公司致力于提供质谱仪,欢迎新老客户来电!宿迁ICP-OES质谱仪

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Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特点:

高达 500,000 FWHM 的超高分辨能力,m/z 为 200 时同位素保真度高达 240,000 FWHMOrbitrap 和线性离子阱 MSn 分析的采集速率高达 20 Hz应用智能 ADAPT™(所有动态可用并行时间)技术可实现完全并行化 MS 和 MSn 分析MS 和 MSn 实验的同步前体选择 (SPS) 可以显著提高鉴定的多肽和蛋白数量,当使用同量异序质量标签时,还能提高定量分析准确性片段化灵活性 — CID、HCD 和可选 ETD 和 EThcD 在 MSn 的任何阶段均可用,与 Orbitrap 或线性离子阱检测器检测一起,可以对代谢物、聚糖和其他小分子进行详细的结构确定 黄浦ICPMS质谱仪色谱柱上海禹重实业有限公司为您提供质谱仪,有需要可以联系我司哦!

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    在使用质谱仪器的过程中,经常会出现各种各样的故障,影响实验的正常进行,如何迅速、准确地判断故障原因,及时地予以排除,是仪器操作人员经常面临和急需解决的问题。咱们就对质谱仪常见的故障现象、产生故障的可能原因及故障排除方法进行了总结和归纳,供仪器操作人员参考。1、质谱不出峰的可能原因(1)进样系统与离子源没连接或有漏液(2)六通阀漏液(3)雾化气没开(4)喷雾电压没有(5)离子进入分析器的离子通道堵塞(6)喷雾毛细管堵塞2、如何根据样品选择离子源可根据分子量的大小、极性。APCI适合小分子,极性小的化合物;ESI适合分析的分子量范围较大、分子要求带有一定极性。一般先考虑用ESI分析,如果极性实在太小,才想到用APCI。

能够分析超高的质量,范围可达 80,000 m/z通过源内捕获实现更高的传输率和更佳的去溶剂化通过四极杆滤质器提供超高的前体离子选择能力,高达 25,000 m/z为 Thermo Scientific Direct Mass Technology 模式增加同步电荷检测功能。

清楚解析复杂样品:为DirectMassTechnology模式增加同步电荷检测功能,以处理因过于复杂而难以通过整体测量进行解析的样品。用精妙的细节界定较大分子的细微变化,揭示关于蛋白质变体、生物***药物和新一代药物模态鉴别和表征的新见解。 上海禹重实业有限公司为您提供质谱仪,有想法的不要错过哦!

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Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特点:新型高灵敏度 API 接口将高容量离子转移管和电动离子漏斗结合,旨在提高离子通量,降低检测限先进的主动离子束传输组件可防止中性粒子和高速离子簇进入分离离子的四极杆中先进的四极杆技术结合高灵敏度和离子传输效率,使选中离子从分离窗口中心穿过先进的真空技术提高了向 Orbitrap 分析仪传输高分子量离子的速度全新的 ETD HD—高动态范围 ETD ***提升了碎片离子覆盖范围高级峰值测定 (APD) - 一种用于改进数据依赖实验中母离子测定的新算法,大幅增加了独特肽段的识别数量和实验通量Tribrid 结构包括四极杆滤质器、线性离子阱以及 Orbitrap 质量分析器,用于尽可能提高由各项仪器操作高度并行化导致的占空比上海禹重实业有限公司是一家专业提供质谱仪的公司,有想法的可以来电咨询!进口iCap TQ质谱仪色谱柱

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电感耦合等离子体ICP源的用途主要有四种:用于等离子体光谱诊断:通过分析ICP源的光谱来分析等离子体原子组分,参见电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES);电感耦合等离子质谱分析技术:作为质谱分析的离子源,分析组分(ICP-MS);用于反应离子刻蚀:通过ICP源产生低温等离子体,刻蚀材料表面,改变材料的物理与化学性质(ICP-RIE);气相沉积薄膜技术(rf-ICP)。是利用通过高频电感耦合产生等离子体放电的光源来进行原子发射光谱分析的方法。它是一种火焰温度范围为6000至10000K的火焰技术。该发射强度表示样品中元素的浓度。为一种新型激发光源,性能优异,应用 。宿迁ICP-OES质谱仪

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