上海DE-2000合金分析仪

Vanta手持式XRF分析仪在筛查诸如玩具、服装和鞋类以及电子设备等消费产品，以发现其中的铅（Pb）、镉（Cd）、砷（As）、汞（Hg）、铬（Cr）及其它有毒金属时，可以进行快速精确的元素分析，以判断这些商品是否符合RoHS法规的要求。Vanta分析仪是完成合理检测项目的理想工具。Vanta手持式分析仪的可选5百万像素全景摄像头及Wi-Fi连通性能，可使用户轻松完成样件图像和结果的归档工作。每台Vanta分析仪都使用了奥林巴斯的**噪声Axon技术，都具有极高的灵敏度，从而可为受监查的元素提供极低的检出限，并做出精确的通过/失败判断。分析仪初学的操作人员只需很少的培训，即可自如操作。上海DE-2000合金分析仪

当今先进的技术： 分析仪采用了X射线管光源、多光束过滤技术、以及个人数位助理技术，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。 ·在检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。 ·使用了先进的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。 ·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。 ·可以在显示荧幕上观看光谱。海南三元催化分析仪供应商Vanta手持式XRF分析仪具有很高的性价比。

XRF分析仪如何测量涂层厚度： 准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品，同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处；产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时，也会对涂层进行检测：确保所接收来料使用的是正确的涂层材料，且涂层的厚度准确无误。 取决于不同的材料，奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以测量范围从0.00到约60.00微米的涂层厚度。分析仪发出X射线，X射线撞击到被测样本，使样本发出荧光。分析仪探测到返回的X射线，并使用获得的数据计算涂层的厚度。 根据国际材料工程师和科学家协会（ASM）的防腐和防磨表面工程要求，属于这个范围的各种表面工程技术包括电镀（机械、化学、电解）、蒸发（化学和物理沉积）和粘合（树脂或漆料）。

我们的客户使用Vanta手持式X射线荧光（XRF）分析仪可以确定合金、金属、土壤及其它材料的化学成分。但是，您可否知道我们奥林巴斯的分析仪还可以测量涂层的厚度？配备了涂层方式的Vanta分析仪可以测量金属、塑料、玻璃，甚至木材表面的涂层厚度，且可测量多层涂层的厚度。涂层具有装饰、保护或其他功能性作用。例如：汽车工业中使用的涂层可以起到防腐蚀、装饰、防磨损，以及保护电子器件的作用。同样，航空航天工业使用的涂层有助于减少阻力，防止出现残渣碎片和积累的污垢，从而可以降低燃料的消耗。 使用涂料的其他常见应用包括： 屏蔽电子器件：导电的涂层用于屏蔽塑料设备 建筑饰面：涂层可以保护钢铁材料免受锈蚀，避免铜和黄铜材料失去光泽，避免锌材和铝材出现污渍 太阳能电池：许多太阳能电池覆盖有薄合金或聚合物涂层 工具钢：钛制和钨制硬质合金有助于增加防磨性和耐用性 电气布线：锌涂层和镍涂层正在取代过去的镉涂层 合金分析仪携带方便，使用简单，分析速度快，精度高等优点。

在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将较里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。合金分析仪是基于X射线理论而诞生的。广东贵金属分析仪供应

分析仪采用了X射线管光源、多光束过滤技术、以及个人数位助理技术。上海DE-2000合金分析仪

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