浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD费用

X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X射线满足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射线的波长；θ是衍射角；d是结晶面间隔；n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照，即可确定试样结晶的物质结构，此即定性分析。从衍射X射线强度的比较，可进行定量分析。X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD费用

使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱，相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的X射线衍射谱来说，它的谱图特征可能是：衍射峰数量可能会变少，峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱；如果测试时单晶样品不旋转，有些峰可能就根本不出现，因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射；其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。 若将一束单色X射线照射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射，常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是：一为回摆法，二为四圆衍射仪法。湖州衍射仪品牌哪家好X射线衍射分析的粉末样品时的要求是什么?

x射线粉末衍射仪, 针对于测试样品为粉末;x射线衍射仪 , 包括粉末衍射、单晶衍射、高温衍射仪等等 !x射线衍射仪包含x射线粉末衍射仪!由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前x射线粉末衍射技术是主流的x射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构.粉末衍射也可以分析出空间结构.但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析.x射线粉末衍射可以:判断物质是否为晶体.判断是何种晶体物质.判断物质的晶型.计算物质结构的应力.定量计算混合物质的比例.计算物质晶体结构数据.7,和其他专业相结合会有更普遍的用途.

X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线，晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。X射线衍射仪技术（XRD）注意事项： （1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。 （2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。 （3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 （4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

衍射（diffraction）又称为绕射，波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象。衍射现象是波的特有现象，一切波都会发生衍射现象。 如果采用单色平行光，则衍射后将产生干涉结果。相干波在空间某处相遇后，因位相不同，相互之间产生干涉作用，引起相互加强或减弱的物理现象。 衍射的结果是产生明暗相间的衍射花纹，表示着衍射方向（角度）和强度。 x射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶体内各原子呈周期排列，因而各原子散射波问也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本质是晶体中各原子相干散射波叠加(合成)的结果．衍射和干涉其物理本质是一样的！！！！都是光的干涉。X射线衍射法，对样品测试收费要远高于红外光谱的。芜湖衍射仪多少钱

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X射线衍射仪的用途是什么？当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。X射线衍射仪使用注意事项：固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD费用

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