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多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数,有三种方法描述织构:极图、反极图和三维取向函数,这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构,要知道其极图形式,只要求出其丝轴指数即可,照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂,需要两个指数来表示,且多用衍射仪进行测定。X射线衍射技术在材料分析领域有着十分多方面的应用,在无机材料、有机材料、钢铁冶金、纳米材料等研究领域中发挥越来越重要的作用。X射线衍射技术已经成为人们研究材料尤其是晶体材料很方便、很重要的手段。随着技术手段的不断创新和设备的不断完善升级,X射线衍射技术在材料分析领域必将拥有更广阔的应用前景。x射线粉末衍射可以和其他专业相结合会有更普遍的用途。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD销售代理

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 （2）样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 （3）射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 （4）衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。奥林巴斯XRD供应商X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

由于原子在晶体中是周期排列的，这些散射球波之间存在固定的相位关系，会导致在某些散射方向的球面波相互加强，而在某些方向上相互抵消，从而出现衍射现象。每种晶体内部的原子排列方式是的，因此对应的衍射花样是的，类似于人的指纹，因此可以进行物相分析。其中，衍射花样中衍射线的分布规律是由晶胞的大小、形状和位向决定。衍射线的强度是由原子的种类和它们在晶胞中的位置决定。粉末样品或表面平整的块状样品。粉末样品要求磨匀，样品表面要铺平，减小测量样品的应力影响。

分析电子衍射与x射线衍射有何区别？相同点是两者都是可以把晶体看做一个三维的光栅，对不同位置的原子散射的波进行叠加求和，反映的晶格的对称性信息；不同点是电子衍射是电子受到在空间上周期性变化势场的散射，电子与样品的相互作用往往比x射线衍射与样品作用要强烈一些，往往不止发生一次散射，即要考虑动力学效应，x射线是与核外电子发生作用，与核外的电子分布情况相关。实用角度的答案，在确定晶体对称性上，通常是用x射线来定的，因为动力学效应很弱，不会出现本来消光的斑点位置因为多次散射的原因又出现亮斑的情况，因此便于分析，另外很重要的一个原因是x射线的制样更加容易。一个小晶体衍射X射线，其衍射方向是与晶体的周期性（d）有关的。

测角仪是X射线衍射仪的中心部件，主要由光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。衍射仪中常用的探测器是闪烁计数器，它是利用X射线能在某些固体物质（磷光体）中产生的波长在可见光范围内的荧光，这种荧光再转换为能够测量的电流。由于输出的电流和计数器吸收的X光子能量成正比，因此可以用来测量衍射线的强度。衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统扫描操作完成后，衍射原始数据自动存入计算机硬盘中供数据分析处理。数据分析处理包括平滑点的选择、背底扣除、自动寻峰、d值计算、衍射峰强度计算等。上海泽权告诉您衍射仪的选择方法。欢迎来电咨询上海泽权！奥林巴斯XRD供应商

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X射线衍射仪技术通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。因此，X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。那大家对于X射线衍射(XRD)相关术语又了解多少呢？粉末衍射仪是目前研究粉末的X射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用聚焦光束型的衍射几何，一般使用普通的闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量；衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD销售代理