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X射线衍射扩展资料：晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图,因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD生产厂家有哪些

射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。由于晶体中原子是周期排列的，其周期性可用点阵表示。而一个三维点阵可简单地用一个由八个相邻点构成的平行六面体（称晶胞）在三维方向重复得到。一个晶胞形状由它的三个边（a,b,c）及它们间的夹角（γ，α，β）所规定，这六个参数称点阵参数或晶胞参数。 江苏奥林巴斯XRD厂家有哪些分析电子衍射与x射线衍射有何区别？

多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进（阶梯）扫描两种。1.连续扫描法：连续扫描方式扫描速度快、工作效率高，一般用于对样品的全扫描测量（如物相定性分析）。步进扫描法：步进扫描测量精度高并受步进宽度与步进时间的影响，适用于做各种定量分析工作。测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。单晶体的研究方法分析的对象是一粒单晶体，如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中院子或原子团均是周期排列的。将X射线射到一粒单晶体上会发生衍射，对衍射先进行分析可以解析出原子在晶体中的排列规律——即解出晶体结构。

衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。 硬件系统和软件系统的有效结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要 高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果 高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度 各种功能附件满足不同测试目的需要 程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观 X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器： 未知样品中一种和多种物相鉴定 混合样品中已知相定量分析 晶体结构解析（Rietveld结构分析） 非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下） 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 微区样品的分析 金属材料织构、应力分析。衍射仪的选材要求是什么？上海泽权告诉您。

微观应力是指由于形变、相变、多相物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间或晶粒之中的微区应力。当一束X射线入射到具有微观应力的样品上时,由于微观区域应力取向不同,各晶粒的晶面间距产生了不同的应变,即在某些晶粒中晶面间距扩张,而在另一些晶粒中晶面间距压缩,结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,总的效应是导致衍射线漫散宽化。材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因,因此衍射线的半高宽即衍射线比较大强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。衍射的结果是产生明暗相间的衍射花纹，反映着衍射方向（角度）和强度。上海奥林巴斯Terra便携式XRD分析仪批发哪家好

测角仪是粉末衍射仪上精密的机械部件，用来精确测量衍射角。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD生产厂家有哪些

用x射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。如果x射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为eb，射出固体后的动能为ec，则它们之间的关系为： hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： eb＝hν-ec-ws 可见，当入射x射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这是光电子能谱仪的基本测试原理。江苏奥林巴斯BTX小型台式XRD生产厂家有哪些