湖北奥林巴斯分析仪价格
分析仪类似智能手机的用户界面,使用非常方便,初学的操作人员只需很少的培训,即可自如操作。分析仪的屏幕上直接显示清晰的检测结果,其中包括牌号识别信息、规格比较信息及元素的组成成分。软件可以自行定制,用户可以将屏幕上的指示设置为通过/失败结果或特定的说明。对作为用户资产的分析仪进行保护非常重要,特别是在分析仪检测削屑或其他尖利物件时。添加一个保护层有助于使分析仪免受损坏。Vanta 分析仪的50 µm厚的聚酰亚胺(Kapton)窗口被贴在一个不锈钢面板上,这样在野外更换窗口时,无需使用工具就可以方便地将旧窗口揭下来,并贴上新窗口。此外,分析仪的用户还可以享有一年的标准质保服务。Vanta系列的各种型号分析仪具有不同的价格,可以完成各种不同的应用(从简单的合金分拣到更复杂的应用),从而可以满足不同用户的需求。Vanta手持式XRF分析仪有助于确保贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员使用正确牌号的合金。湖北奥林巴斯分析仪价格
Vanta系列:坚固耐用、 改进创新、 高效多产 Vanta分析仪是奥林巴斯迄今为止为用户提供的较先进的手持式X射线荧光(XRF)设备,可以为那些要求在野外环境获得比较准分析水平的用户,进行快速精确的元素分析和合金辨别。 Vanta手持式XRF分析仪是一款坚固耐用的设备。 Vanta分析仪坚固耐用的机身结构设计使其不会轻易受到损伤,因此可以工作更长的时间,并降低用户的拥有成本。 Vanta系列分析仪的界面浏览简单直观,而且用户可以对其软件自行配置,所以操作人员只需接受简单的基础培训,就可以轻松地使用分析仪,用户也因此会获得非常高的分析量,并迅速获得投资回报。 Vanta分析仪使用其特有的创新型Axon技术,在更多样复杂的环境中或工作条件下,都可以为用户提供精确的结果,并有助于生产率的提高。 在高温、雨淋等恶劣的条件下具有超乎寻常的耐用性能。 较好的分析性能。 可选的Wi-Fi和蓝牙功能,可使用户实时进行数据分享。 可以应用云技术。 简单直观的用户界面。湖北合金分析仪供应合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术,可用于确认物质里的特定元素, 同时将其量化。
XRF分析仪如何测量涂层厚度: 准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品,同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处;产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时,也会对涂层进行检测:确保所接收来料使用的是正确的涂层材料,且涂层的厚度准确无误。 取决于不同的材料,奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以测量范围从0.00到约60.00微米的涂层厚度。分析仪发出X射线,X射线撞击到被测样本,使样本发出荧光。分析仪探测到返回的X射线,并使用获得的数据计算涂层的厚度。 根据国际材料工程师和科学家协会(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,属于这个范围的各种表面工程技术包括电镀(机械、化学、电解)、蒸发(化学和物理沉积)和粘合(树脂或漆料)。
在XRF分析法中,从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将较里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时,原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定,外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中,它们会释放出能量,我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如,铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度,能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。Vanta分析仪是奥林巴斯迄今为止为用户提供较先进的手持式X射线荧光(XRF)设备。
航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和***制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。我们知道,合金是由两种或两种以上的金属或金属与非金属经一定配方所合成的具有金属特性的物质,目前已经知道的合金有几万种,比如像铝合金、镁合金、锌合金、镍合金等等。在如今对合金成分进行鉴定分析的过程中,小巧便携的手持式X射线荧光分析仪逐渐取代台式分析仪,成为了市场主流。 由奥林巴斯研发推出的Vanta 分析仪便是这样一款小巧的手持式合金分析仪,不仅检测迅速、结果可靠、坚固耐用,而且连通性好、操作便捷易携带,在包含回收废料和各种金属的检测环境中,不受外界艰苦环境影响,可以迅速得到准确的分析结果。经过适当的调整之后,分析仪还可以用来检测筛选程式等和其他各种类型的测试样品。福建土壤重金属分析仪供应
在恶劣工业环境中进行的要求严苛的应用,需要分析仪具有坚固耐用的特性。湖北奥林巴斯分析仪价格
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围可以从12号元素(Mg)到92号元素(U)。湖北奥林巴斯分析仪价格
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