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使用粉末多晶衍射仪测量单晶体样品时得到的X射线衍射谱，相对于与所测单晶体同种类的多晶样品的X射线衍射谱来说，它的谱图特征可能是：衍射峰数量可能会变少，峰强度会有变化:有的会变强、有的会变弱；如果测试时单晶样品不旋转，有些峰可能就根本不出现，因为其照射角派生的2θ满足不了布拉格公式而发生衍射；其峰强弱依赖于单晶样品在谱仪样品架上的作固定安装的立体角参数。若将一束单色X射线照射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。要使各晶面族都发生衍射，常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法是：一为回摆法，二为四圆衍射仪法。衍射仪的型号种类。欢迎来电咨询上海泽权！奥林巴斯BTX小型台式XRD报价多少钱

X射线粉末衍射仪的注意点：影响衍射环质量的主要因素是样品的取样性偏差，即晶体的晶癖特征导致某些方向被过度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗语言描述即，片状晶体在测量盘中呈现“躺着/睡着的姿势”，衍射角集中于水平角度，而在纵向上有所欠缺。此类晶体通常可体现出过筛前后或粉碎前后XRPD图谱不同，而其实际晶型并未发生变化。因此，针对不同合成工艺所得原料，应先通过显微镜观察其晶癖，再测定粉碎或过筛前后XRPD，避免发生过筛导致晶型变化的错误判断。此外，在晶型特征峰分析时，更关注低角度的峰，因其表示了间距较大的晶面，其衍射峰受干扰的概率较低。总之，判断不同多晶型的XRPD图谱，其是否为同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依据，因其角度大小反应的是单元晶格大小；而峰相对强度取决于晶体中的原子种类及其分布位置。如所测图谱质量不高，则相对峰强度差异通常不应成为晶型不同的判断依据。安徽奥林巴斯XRD公司哪家好X射线衍射分析法又被称为粉末X射线衍射分析法。

一个小晶体衍射X射线，其衍射方向是与晶体的周期性有关的。一个衍射总可找到一个晶面族HKL，使它与入射线在此面族上符合反射关系，就以此面族的符号HKL作为此衍射之指数。对于x射线衍射，当光程差等于波长的整数倍时，晶面的散射线将加强，此时满足的条件为2dsinθ=nλ---布拉格方程，其中，d为晶面间距，θ为入射线，反射线与反射晶面之间的夹角，λ为波长，n为反射级数，布拉格方程是x射线在晶体产生衍射时的必要条件而非充分条件。有些情况下晶体虽然满足布拉格方程，但不一定出现衍射，即所谓系统消光。

多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X射线发生器(产生X射线的装置);2)测角仪(测量角度2θ的装置);3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置);4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等).另外：测角仪（包括狭缝系统）、探测器等都是X射线衍射仪中非常关键的组成部分X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管，其阴极是钨丝，阳极为金属片。在阴极两端加上电流之后，钨丝发热，产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速，轰击阳极（又称靶），产生X射线（此过程产生大量热量，为了保护靶材，必须确保循环水系统工作正常）。衍射仪的服务价格更优惠。欢迎来电咨询上海泽权！

X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定量分析。普遍应用于冶金，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。基本构造:X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。高稳定度X射线源：提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。衍射仪的详细介绍。欢迎来电咨询上海泽权！奥林巴斯XRD工艺

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