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当测试员把ICT治具装好后,发现测试不良连续2PCS以上应该怎么做?线路不良:1、ICT治具护板上以及各探针之间是否有锡渣,铜丝等。应及时清理好;2、ICT治具底部针套是否有被压断(出现开路不良)压弯倒一起(出现短路不良);3、若是相邻两点短路不良,检查针点是否变形或靠在一起,见意换成小尖针。开路不良:1、算出相应针点的排插序号(用开路针点号除以32,有小数点都进1位,如100/32=3。125就是第四号排线。)重新插好。多次插拔仍开路,则用ICT探针笔测试其排插是否为良品,如不良排线进行更换;2、检查其针点表面是否有异物,探针是否完全陷下去,已失去弹性等,应及时更换探针。PS:如果以上问题没有能够及时解决,请尽快找ICT工程师进行处理。测试员不能擅自改动ICT测试程式。ICT测试治具能够对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试。在线测试治具厂家报价
ICT测试治具使用什么板材?ICT测验治具中所选用的板材一般有压克力(有机玻璃)、环氧树脂板等。一般的测验治具探针大于1毫米,这类治具首要板材是有机玻璃,首要是因为有机玻璃的价格低,一起相对较软的钻孔时有胀缩探针套管与孔的结合紧密,透明的治具,一旦出现问题容易查看。但是一般的有机玻璃在钻孔的时分容易发生溶化和断钻头的情况,特点是钻孔孔径小于0.8毫米的,一般钻孔孔径小于1毫米时都选用环氧树脂板材,环氧树脂板材钻孔不容易断钻头其耐性及刚性都好,环氧树脂板没有胀缩所以假如钻孔孔径不精确会形成探针套管与孔之间很松动发生晃动。环氧树脂板不透明假如治具具出现问题比较难查看,别的有机玻璃温差变形比环氧树脂板大一些,假如测验的密度十分高的需选用环氧树脂板。深圳在线ICT仪器哪家好选用ICT测试治具探针主要是根据线路板的中心距和被测点的开关而定。
ict测试设备和冶具价格不便宜,那么如何做选择呢?看具体工厂生产产品的量,我们操作时候其实是量变到质变的过程,每天在铺垫量,生产线起来了以后,也就可以得到突破。使用时候,要维修及时,降低人力成本,维持机器的高速运营。电脑设备的响应速度也很重要,及时看到哪个零件出了问题。所以贵的有贵的好处。ICT设备测试的基本知识:ICT是In-CircuitTester的简写,它是一种利用电脑技术,在大批量生产的电子产品生产线上,测试电路板上元器件是否正确及其参数、电路便装配是否正确的测试仪器。由于它不是模拟测试电路的功能、性能,所以也叫其为电路板的静态测试。
ICT测试治具的功能及特性:ICT测试治具顾名思义就是一种在线检测的测试治具,那么这种治具主要具有哪些功能及特性呢?在线测试通常是生产中首先道测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试治具测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。ICT测试治具是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率高,对每种单板需制作专门的针床,这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。ICT测试治具因测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。
ICT测试治具的板材是采用什么材料制作而成的,相信还是有很多人不知道的,ICT测试治具中所选用的板材一般有压克力(有机玻璃)、环氧树脂板等。一般的测试治具探细孔大于1毫米,这类治具主要板材是有机玻璃,主要是由于有机玻璃的价格低,同时相对较软的钻孔时有胀缩探针套管与孔的结合紧密,透明的治具,一旦出现问题容易检查。但是普通的有机玻璃在钻孔的时候容易发生溶化和断钻头的情况,特点是钻孔孔径小于0.8毫米的,一般钻孔孔径小于1毫米时都采用环氧树脂板材,环氧树脂板材钻孔不容易断钻头其韧性及刚性都好,环氧树脂板没有胀缩所以如果钻孔孔径不精确会造成探针套管与孔之间很松动产生晃动。环氧树脂板不透明如果治具具出现问题比较难检查,另外有机玻璃温差变形比环氧树脂板大一些,如果测试的密度非常高的需采用环氧树脂板。ICT有多个引脚,每条引脚都需要设一个测试点。无锡在线检测仪器
ICT测试治具与FCT测试治具都是电子产品制造设备都使用在产品生产线上。在线测试治具厂家报价
如何对ICT测试仪的测试针进行保养呢?测试针主要是用于PCB板测试时又分为弹簧针和通用针,弹簧针在使用时,需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具,且一般情况下,一个模具只能测试一种PCB板;通用针在使用时,只需有足够的点数即可,故现在很多厂家都在使用通用针;弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针,PCB板探针主要用于PCB板测试,ICT探针主要用于插件后的在线测试,BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。尺寸按照pad间距定义:50mil75mil100mil125mil这是主要常用的尺寸。测试针顶部外形:尖针开花针圆头针平凸。按照功能分:开关针RF针气针普通针等。ICT测试时经常发生测试针断了的情况,这主要看针是在哪个位置断掉的,如果与针套齐平断掉的,建议从针套尾巴处用退针套的工具反面敲出来,如果针套尾巴断了,建议在正面的针套上焊个比较粗的东西,用大力钳拔出,为了减少这种测试针断了的情况我们应该对其进行保养。在线测试治具厂家报价
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