宁夏组件检测仪厂家

时间:2023年07月26日 来源:

识别“隐裂”的方法EL(Electroluminescence,电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺点检测设备,是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理,通过辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺点。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。形成“隐裂”的原因外力:电池片在焊接、层压、装框或搬运、安装、施工等过程中会受外力,当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。高温:电池片在低温下没有经过预热,然后在短时间内突然受到高温后出现膨胀会造成隐裂现象,如焊接温度高、层压温度等参数设置不合理。原材料:原材料的缺点也是导致隐裂的主要因素之一。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司。宁夏组件检测仪厂家

电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。一是系统设计原因:光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的,这就造成在单个组件和边框之间形成偏压,组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件,通过有变压器的逆变器负极接地,消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生,但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;二是光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。三是电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。江西pl检测仪检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,让您满意,欢迎新老客户来电!

上海欧普泰科技创业股份有限公司。电池片外观缺点在线自动识别检测系统  在对电池片进行处理的过程中,很容易导致其断栅、缺角、色差、脏污、水纹等缺点,如这些缺点不能即时快速的被发现,将会影响到太阳能电池组件的质量。 运用机器视觉的原理,对生产完毕的电池片进行实时图像摄取,并通过专门开发的图像处理分析识别软件对图像进行分析,判断电池片外观是否有缺点。如检测到有缺点,就会通过声、光报警提示操作人员及时处理或由输送系统自动筛选。同时缺点电池片的图像被存储到计算机,供事后查询、分析。

在生产过程中以及后续的存放、运输、安装中避免电池片受到不当的外力介入,也注意储存环境温度变化范围。在焊接过程中电池片要提前保温(手焊)烙铁温度,确保要符合要求。影响光伏组件正常工作的两个效应:光伏组件在光伏发电中是重要的设备,在日常安装和运维过程中如果出现特殊情况会造成光伏组件的热斑效应和电位诱发衰减效应(PID),为广大业主造成损失,所以我们应该在安装和日常维护电站时注意控制光伏电站避免出现这两种效应。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,欢迎客户来电!

   上海欧普泰科技创业股份有限公司,光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后,需要进行检测,来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的,主要包含以下项目。功率衰减测试光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少?25年太久,现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准,晶硅电池2年的衰减率应该在。但目前这个数据还真的很难说,原因有三:光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的,但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件,到了B厂,可能就是245W的组件的。现场检测所用的仪器精确度较差,据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器,测2%(1年)的衰减,难度有些大,结果也令人怀疑。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,用户的信赖之选,有想法的不要错过哦!天津视觉检测仪厂家

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玻璃位于光伏组件正面的外层,在户外环境下,直接接受阳光照射,并隔离水气、杂质等。一般的光伏组件使用的玻璃为镀膜钢化玻璃。钢化玻璃是将玻璃加热到接近融化的温度,一般在600℃-650℃时处于粘性流动状态,保温一定时间,然后经过快速冷却即淬火,使玻璃内部产生很大的张应力,尤其是玻璃表面。张应力存在于玻璃内部,当玻璃破碎时,能使玻璃保持一体而不会碎裂,通常钢化玻璃很难被外力正面击碎,而由于张应力的原理,使得钢化玻璃在接触尖锐物理撞击或者磕碰边角时很容易碎裂。这在生产和使用过程中要尤其注意。宁夏组件检测仪厂家

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