自动化眼图测试销售电话

当数字信号叠加形成眼图以后，为了方便地区分信号在不同位置出现的概率大小，更多的时候会用彩色余晖的模式进行信号的观察。彩色余晖就是把信号在屏幕上不同位置出现的概率大小用相应的颜色表示出来，这样可以直观地看出信号噪声、抖动等的分布情况。

对于眼图的概念，有以下几点比较重要：

（1）眼图的波形的叠加：眼图的测量方法不是对单一波形或特定比特位置的波形参数进行测量，而是把尽可能多的波形或比特叠加在一起，这样可以看到信号的统计分布情况。只有差的信号都满足我们对于信号的基本要求，才说明信号质量是可以接受的。 一种眼图测试方法和眼图测试系统？自动化眼图测试销售电话

DDR4 眼图测试1-1

对于 DDR 源同步操作，必然要求DQS 选通信号与 DQ 数据信号有一定建立时间 tDS 和保持时间 tDH 要求，否则会导致接收锁存信号错误，DDR4 信号速率达到了3.2GT/s，单一比特位宽为 312.5ps，时序裕度也变得越来越小，传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到 tDS/tDH 差值，无法大概率体现由于 ISI 等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献，也很难准确反映随机抖动 Rj 的影响。在 DDR4 的眼图分析中就要考虑这些抖动因素，基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分，外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC 协会在规范中明确了在 DDR4 中测试误码率为 1e-16 的眼图轮廓，确保满足在 Vcent 周围Tdivw 时间窗口和 Vdivw 幅度窗口范围内模板内禁入的要求。 广东信息化眼图测试配件克劳德高速数字信号测试实验室，什么是眼图 “眼图就是象眼睛一样形状的图形。

    对于DDR源同步操作，必然要求DQS选通信号与DQ数据信号有一定建立时间tDS和保持时间tDH要求，否则会导致接收锁存信号错误，DDR4信号速率达到了，单一比特位宽为，时序裕度也变得越来越小，传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到tDS/tDH差值，无法大概率体现由于ISI等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献，也很难准确反映随机抖动Rj的影响。在DDR4的眼图分析中就要考虑这些抖动因素，基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分，外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC协会在规范中明确了在DDR4中测试误码率为1e-16的眼图轮廓，确保满足在Vcent周围Tdivw时间窗口和Vdivw幅度窗口范围内模板内禁入的要求。

由于眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特位信息，所以成为了衡量信号质量的重要工具，眼图测量有时侯就叫“信号质量测试”。此外，眼图测量的结果是合格还是不合格，其判断依据通常是相对于“模板（Mask）”而言的。模板规定了串行信号“1”电平的容限，“0”电平的容限，上升时间、下降时间的容限。所以眼图测量有时侯又被称为“模板测试（MaskTest）”。模板的形状也各种各样，通常的NRZ信号的模板如图五和图八蓝色部分所示。在串行数据传输的不同节点,眼图的模板是不一样的，所以在选择模板时要注意具体的子模板类型。如果用发送端的模板来作为接收端眼图模板，可能会一直碰模板。但象以太网信号、E1/T1的信号，不是NRZ码形，其模板比较特别。当有比特位碰到模板时，我们就认为信号质量不好，需要调试电路。有的产品要求100%不能碰模板，有的产品是允许碰模板的次数在一定的概率以内。示波器中有测量参数可自动统计出碰到模板的次数。此外，根据“侵犯”模板的位置就能知道信号的哪方面有问题从而指导调试。如图九表明信号的问题主要是下降沿太缓，图十表明1电平和0电平有“塌陷”，可能是ISI问题导致的。克劳德高速数字信号测试实验室眼高意味噪声；眼宽意味抖动。

    图测量中需要叠加的波形或比特的数量：在眼图测量中，叠加的波形或比特的数量不一样，可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在，叠加的波形或比特数量越多，则眼的张开程度会越小，就越能测到恶劣的情况，但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷，有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量，比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择：当数字信号进行波形或者比特叠加后，形成的不只是一个眼图，而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够，这些眼图都是很相似的，因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成的多个连续的眼图，可以看到每个眼图都是很相似的。通常情况下，为了测量的方便，一般会调整时基刻度使得屏幕上只显示一个完整的眼图。 一种统计眼图的测算方法及眼图分析装置？上海DDR测试眼图测试故障

示波器观测到的眼图。自动化眼图测试销售电话

DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时，由于 BGA 信号难以探测，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，将 BGA 下方的信号引到 Interposer ，方便探头焊接，为了减少 Interposer 对信号带来影响，在 interposer 内专门有埋阻设计，减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应；但为了精确测量，我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌，在软件内使用多端口拓扑模型，载入 Interposer 的S 参数，生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数，在示波器中测得去嵌后的波形，下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 自动化眼图测试销售电话