测量眼图测试方案商

时间：2024年07月13日来源：

误码率在数字电路系统中，发送端发送出多个比特的数据，由于多种因素的影响，接收端可能会接收到一些错误的比特（即误码）。错误的比特数与总的比特数之比称为误码率，即BitErrorRatio，简称BER。误码率是描述数字电路系统性能的**重要的参数。在GHz比特率的通信电路系统中（比如FibreChannel、PCIe、SONET、SATA），通常要求BER小于或等于。误码率较大时，通信系统的效率低、性能不稳定。影响误码率的因素包括抖动、噪声、信道的损耗、信号的比特率等。数字信号眼图测试系统。测量眼图测试方案商

信号完整性的第一步—搞懂眼图在传统汽车工程师的世界里，1MHz以上的信号就觉得是高频了，那个时候很少会考虑信号完整性，眼图更是闻所未闻。智能网联汽车的兴起，千兆以太网来了，DDR来了，GPS来了，4G，5G来了，汽车工程师突然成了通信工程师，我们还是我们，走线却不再是那根走线。眼图是信号完整性的第一步，看懂眼图也算我们入行了。

观察眼图的方法是:用一个示波器跨接在接收滤波器的输出端，然后调整示波器扫描周期，使示波器水平扫描周期与接收码元的周期同步，这时示波器屏幕上看到的图形像人的眼睛，故称为 "眼图"。测量眼图测试方案商克劳德高速数字信号测试实验室信号完整性测试、多端口矩阵测试、HDMI测试、USB测试、DDR测试。

克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试测量方法编辑播报眼图测试是高速串行信号物理层测试的一个重要项目。眼图是由多个比特的波形叠加后的图形，从眼图中可以看到:数字信号1电平、0电平，信号是否存在过冲、振铃，抖动是否很大，眼图的信噪比，上升/下降时间是否对称(占空比)。眼图反映了大数据量时的信号质量，可以直观地描述高速数字信号的质量与性能。传统眼图测量方法用中文来理解是8个字:“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是8个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就4个字:触发、切割，传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，每触发一次眼图上只增加了一个比特位。

新的眼图生成方法解决了触发抖动问题，处理UI多，因此速度也快。2.1.2.1.数据边沿的提取数据边沿的提取获取捕获数据的最大值为Max，最小值为Min，设置Threshold=0.5*(Max+Min)，当采样点电压值穿过Threshold时，记录下时间为Edgetime_initial[i]，这将是后面进行理想时钟恢复的依据。在进行数据边沿的提取时，需要注意的是，由于采样率有限制当码元速率较高时，单个码元对应的采样点个数较少会使得求出的Edgetime_initial值误差较大，这时候就需要在Threshold附近进行插值。数据边沿的提取与边沿触发的原理较为相似，对于Threshold附近噪声干扰的处理方法可以参照触发的实现方式。触发粘滞比较处理如下图所示，将比较器输出高低电平比较信号，经过运算处理为1个比较信号。粘滞比较器的总的规则是信号大于高电平比较为高，小于低电平比较为低，否则保持不变。

2.1.2.2.时钟恢复时钟恢复是眼图抖动生成的关键。下图为一个简单的时钟数据恢复CDR（ClockDataRecovery）电路示意图。时钟数据恢复电路主要完成两个工作，一个是时钟恢复，一个是数据重定时，也就是数据恢复。克劳德高速数字信号测试实验室八种状态形成的眼图。

在进行眼图测试时直接把眼图套在这个模板上，如果长时间累积测量信号没有压在模板上，就说明信号满足了基本质量要求，一个对10.31Gbps的信号进行模板测试的例子，信号质量很好，所以点没有压在模板上。

如果被测信号压在测试模板上，就说明被测信号质量有明显的问题。

通过模板测试，可以快速判决信号质量的问题，因此模板测试在很多高速总线的兼容性测试中都是比测的项目。

但是需要注意的一点是，虽然眼图的模板的测试可以反映出高速数字信号质量的大部分问题，但并不是全部的。即使信号通过了模板测试，也有可能其他参数不满足条件，例如信号里各个抖动分量成分占的比例、预加重的幅度、共模噪声、SSC的调制速率和调制深度等，所以大部分高速的数字总线除了进行眼图的模板测试外还都会要求一些其他项目的测试。示波器观测到的眼图。测量眼图测试方案商

DDR测试USB眼图测试设备？测量眼图测试方案商

DDR4 眼图测试1-1

对于 DDR 源同步操作，必然要求DQS 选通信号与 DQ 数据信号有一定建立时间 tDS 和保持时间 tDH 要求，否则会导致接收锁存信号错误，DDR4 信号速率达到了3.2GT/s，单一比特位宽为 312.5ps，时序裕度也变得越来越小，传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到 tDS/tDH 差值，无法大概率体现由于 ISI 等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献，也很难准确反映随机抖动 Rj 的影响。在 DDR4 的眼图分析中就要考虑这些抖动因素，基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分，外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC 协会在规范中明确了在 DDR4 中测试误码率为 1e-16 的眼图轮廓，确保满足在 Vcent 周围Tdivw 时间窗口和 Vdivw 幅度窗口范围内模板内禁入的要求。测量眼图测试方案商

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