深圳高速AOI检测设备生产厂家

时间:2022年07月29日 来源:

AOI工作的原理对比

1.统计建模方式:图像对比(ImageMatching)的处理方式。通过对OK模板与实际图像的对比,求出差异的程度,来进行检测。这种方式对使用人员要求低,但适应性,检测能力方面有诸多问题。早期,由于开发简单,我国有不少AOI制造商,加以改善(模板有多幅OJ图像叠加而成),美其名曰:“统计建模”。

2.逻辑算法方式:通过算法对图像的特征点的抽取,来进行检测。这种方式对使用人员要求有一定的经验。基于算法的检测方法经过很多年的发展,已经非常成熟稳定,并且在实际运用中取得了很好的效果。被行业前列的AOI制造商采用。

数据管理的对比

1.统计建模方式:在同一基板的相同元件无法统一的库做管理。在基板A中制作的数据无法在基板B中调用。制作新基板监测数据总是需要用一定数量的基板来建立模板数据。

2.逻辑算法方式:以元件库方式作管理,元件库与元件材料号相对于。相同元件,无论在同一基板中,或不同基板中都可以用同一元件库来进行检测。当制作元件材料号相同的基板数据时,只需要简单的链接元件库即可以(通常只需要10-20分钟)。 AOI是新兴起的一种新型测试技术,但发展迅速,很多厂家都推出了AOI测试设备。深圳高速AOI检测设备生产厂家

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AOI光学检测与X-RAY无损检测两者之间的区别

      事实上,SMT当中的AOI和X-RAY这两者之间的功能是完全不一样的,大家一定不要将其混为一谈,尽管它们的基本原理都是通过光的反射来对元件的贴装是否正确、位置是否良好以及有无漏贴等现象进行检查。

AOI的原理以及优势

      AOI实际上是较近几年在市场上才出现的新型检测设备,它的全称为“自动光学检测”,它是基于光学的原理来对焊接生产过程当中所遇到的一些常见的缺陷进行检测的一种设备,比如它在用于SMT贴片当中,对检测元件的焊接之前的贴装不良进行检测,包括电子元件的缺件、反向、偏位等进行检测,还可以对电子元器件经回焊炉之后的焊接不良、缺件等进行检测。

X-RAY的原理以及行业优势

      而作为时下市面上主流的检测设备X-RAY实际上指的就是X光,它的原理是在不损坏被检测物体的前提之下,通过X光来对那些非金属物质特性的物质进行穿透,比如对BGA元件的焊接是否良好以及有没有短路现象的检测;如果说的更加直白一些,那就是AOI检测的是产品的平面,而X-RAY检测的则是产品的内部,比如锂电池、IC芯片等产品有无短路、空焊、漏焊等缺陷。


广东全自动AOI检测设备值得推荐AOI英文全称AutomatedOpticalInspection,即自动光学检测。

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      早期的时候AOI大多被拿来检测IC(积体电路)封装后的表面印刷是否有缺陷,随着技术的演进,现在则被拿来用在SMT组装线上检测电路板上的零件组装(PCBAssembly)后的品质状况,或是检查锡膏印刷后有否符合标准。

      AOI比较大的优点就是可以取代以前SMT炉前炉后的人工目检作业,而且可以比人眼更精确的判断出SMT的打件组装缺点。但就如同人眼一般,AOI基本上也只能执行物件的表面检查,所以只要是物件表面上可以看得到的形状,它都可以正确无误的检查出来,但对于藏在零件底下或是零件边缘的焊点可能就有些力有未逮,当然现在有许多的AOI已经可以作到多角度的摄影来增加其对于IC脚翘的检出能力,并增加某些被遮闭元件的摄影角度,以提供更多的检出率,但效果总是不尽理想,难以达到100%的测试含盖率。

      其实,AOI比较大的缺点是有些灰階或是阴影明暗不是很明显的地方,也就比较容易出现误判的情况,这些或许可以使用不同颜色的灯光来加以判別,但较较麻烦的还是那些被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点,因为传统的AOI只能检测直射光线所能到达的地方,像是屏闭框肋条或是其边缘底下的元件,往往就会因为AOI检测不到而漏了过去。

AOI为什么会逐渐取代人工目检?

      现在的人工越来越贵,并且人员管理也越来越难,人工目检还会出现漏检或错检,因此在线AOI逐渐取代人工目检,达到节约成本、提高生产效率、降低误判率、提高直通率等等,在现代的EMS加工厂中,大量的AOI逐渐取代人工目检,效率也更快。

AOI检测设备的优点

1、解决了微型封装器件的结构性检查问题,保证生产质量;

2、提高了后端测试的直通率,降低维修成本;

3、随着技术的发展,AOI测试程序快捷简便,降低了生产所需的大量测试成本;

AOI检测设备的缺点

1.灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方,比较容易出现误判,

2.被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点,比较容易出现漏检

      人工目检+AOI自动检测结合是目前的主流方式,如果放置了AOI自动检测仪,人工目检人员岗可以设置较少人员

      随着电子精密化趋势发展,越来越多的使用了屏蔽罩,因此有实力的加工厂还会在多功能机前加一个炉前AOI,用来专门检测屏蔽罩下的元件贴装品质。 关于AOI设备光学检测的优势。

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AOI的设备构成

      AOI检测的工作逻辑可以分为图像采集阶段(光学扫描和数据收集),数据处理阶段(数据分类与转换),图像分析段(特征提取与模板比对)和缺陷报告阶段这四个阶段(缺陷大小类型分类等)

      为了支持和实现AOI检测的上述四个功能,AOI设备的硬件系统包括了工作平台,成像系统,图像处理系统和电气系统四个部分,是一个集成了机械,自动化,光学和软件等多学科的自动化设备

图像采集阶段

AOI的图像采集系统主要包括光电转化摄影系统,照明系统和控制系统三个部分

因为摄影得到的图像被用于与模板做对比,所以获取的图像信息准确性对于检测结果非常重要,可以想象一下,如果图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点,那么也就无法谈到准确的检出 如何根据AOI的功能选择设备。云浮精密AOI检测设备技术参数

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系统集成之精密机械

      在AOI检测系统中,被测物体的支撑方式、精密传输与定位装置也必须精心设计,尤其是FPD、硅片、半导体、MEMS和一些光学组件等精密制造与组装行业。在这些领域,制造过程需在超净间进行,要求AOI检测系统有很高的自洁能力,不能给生产环境尤其是被测工件本身带来二次污染,这会影响系统构件的材料选型、气动及自动化装置选型、运动导轨的设计与器件选型等。因此,会需要采取气浮支撑、定位与传输机构以及利用FFU风机过滤机组对检测系统进行环境净化,并采取消静电装置,对工件进行防静电处理。

系统集成之数据处理

      高速图像数据处理也是AOI检测系统的重要部分之一。由于AOI检测是通过图像传感方式获取被测信息的,尤其是高速在线检测,图像数据有时是海量的,为满足生产节拍需求,必须采用高速数据处理技术。会采用共享内存、分布式内存多进程处理、分布式计算机集群等方式,把巨大的图像分时、分块分割成小块数据流,分散到集群系统各节点处理。对于耗时复杂的算法,有时只靠计算机CPU很难满足时间要求,还需配备如DSP、GPU和FPGA等硬件处理模块,协同实现快速复杂的计算难题。

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