深圳TESCAN电镜解决方案
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。
TESCAN在设计、研发和制造扫描电子显微镜及扫描电子显微镜在不同领域的应用方面树立良好的声誉和品牌。深圳TESCAN电镜解决方案
在透射电镜中,对电子束的控制主要通过两种物理效应来实现。运动的电子在磁场中将会根据右手定则受到洛伦兹力的作用,因此可以使用磁场来控制电子束。使用磁场可以形成不同聚焦能力的磁透镜,透镜的形状根据磁通量的分布确定。另外,电场可以使电子偏斜固定的角度。通过对电子束进行连续两次相反的偏斜操作,可以使电子束发生平移。这种作用在TEM中被用作电子束移动的方式,而在扫描电子显微镜中起到了非常重要的作用。通过这两种效应以及使用电子成像系统,可以对电子束通路进行足够的控制。与光学显微镜不同,对TEM的光学配置可以非常快,这是由于位于电子束通路上的透镜可以通过快速的电子开关进行打开、改变和关闭。改变的速度**受到透镜的磁滞效应的影响。
清远泰思肯电镜代理扫描电子显微镜类型多样, 不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。
TEM系统由以下几部分组成:电子:发射电子,由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速、加压的作用。聚光镜:将电子束聚集,可用已控制照明强度和孔径角。样品室:放置待观察的样品,并装有倾转台,用以改变试样的角度,还有装配加热、冷却等设备。物镜:为放大率很高的短距透镜,作用是放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。中间镜:为可变倍的弱透镜,作用是对电子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流,可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。透射镜:为高倍的强透镜,用来放大中间像后在荧光屏上成像。此外还有二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像。
TESCANMAIA3超高.分辨场发射扫描电镜TriSETM技术具有三个SE探测器,对所有工作模式下采集二次电子信号都进行了优化。位于镜简内部的In-BeamSE探测器能在短工作距离下采集二次电子。用于电子束减速模式下的SE(BDM)探测器用于超高.分辨成像。In-ChamberSE探测器能提供形貌衬度电子束减速技术(BDT)能在低至50eV的低电压下,也仍具有出色的分辨率(选配)电子束实时追踪技术可对电子束实现实时优化扩展的低真空模式样品室气压能达到500Pa,可用于不导电样品的成像超高.分辨率0.7@15keV,1.0nm@1keV浸没式物镜系统和无交叉电子束模式结合在一起,可在低能量下实现超高.分辨成像。浸没式物镜能在样品周围产生强磁场,降低了像差。而无交叉电子束模式则降低了Boersch效应,对电子束进行进一步的优化,终达到1.0nm@1keV的超高.分辨率。低电压和电压成像电子束减速技术(BDT)包括了电子束减速模式(BDM),以及在这个模式下可同步获取二次电子和背散射电子信号的高质量的透镜内探头。在电子束减速模式下,通过加在样品台,上的负偏压使得电子束在作用到样品表面前降低能量。比较低的着陆电压可以降低到50eV(在手动控制"下可以降到0eV)。深圳市新则兴科技有限公司,以质量的设备以及质量的服务,为客户提供全力的支持,助推客户质量提升!
一套完整的扫描电子显微镜主要由五个单元组成: (1) 产生高能电子束的镜筒, 包括:电子 、电磁透镜和扫描线圈;
(2) 接收并处理各种电子信号的成像系统:扫描信号发生器、探测器、扫描放大器、电子信息处理器和监控器; (3) 记录电子图像的信息记录系统:摄像头、图像分析器和记录设备; (4) 作为电子束与样品作用载体的真空系统:样品室、真空阀门、机械泵、油扩散泵、离子泵和真空检测装置; (5) 调控扫描电子显微镜外部环境的电源系统:不间断电源、变压器、稳压器、安全控制线路和**地线。
在电子显微镜中样本必须在真空中观察,因此无法观察活样本。清远泰思肯电镜代理
深圳市新则兴科技,专注于代理国外质量的金相制样设备,一直致力于成为客户信赖的实验室整体解决方案提供商!深圳TESCAN电镜解决方案
Leica EM RES102多功能离子减薄仪主要技术参数:
>具有2把离子* ,离子束能量为0.8keV-10keV,相对位置,可分别±45°倾斜,样品台倾斜角度-120°至210°,离子束加工角度0°至90°,样品平面摆角度<360°,垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择(系统备有参考参数,也可自行设置参数并存储);>可选配样品台:TEM样品台(Ø3.0mm或Ø2.3mm),FIB样品清洗台,SEM样品台,斜坡切割样品台(对样品35°或90°斜坡切割)等;>SEM样品台可容纳比较大样品尺寸:直径25mm,高度12mm;>全无油真空系统,样品室带有预抽室,保证样品交换时间<1分钟;>全电脑控制,触摸屏操作界面,内置视频观察系统,可实时观察样品处理过程。 深圳TESCAN电镜解决方案
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