三丰显微镜常见问题

显微镜常见故障的排除：

四、视野出现明亮不均匀检查显微镜使用前是否进行光路对中。

五、目镜视野观察全黑1、检查物镜是否转入光路，视场光阑和孔径光阑是否调节太小2、检查光路是否对中。

六、视野亮度偏暗1、检查视场光阑和孔径光阑是否调的太小。2、检查光路是否调节到位（聚光镜、光阑、灯丝）。3、是否使用了偏光、相差部件。

七、目镜视野内出现黑边1、检查是否视场光阑打得太小。2、光路是否对中（聚光镜、光阑、灯丝）。3、物镜转换是否卡到位。4、目镜筒与机身卡位是否准确。

八、同步性问题使用摄像头观察时，目镜观察清晰，但是电脑显示图像模糊。1、调节接口或接口透镜高度以达到同步。2、调节接口无法完全同步的情况下，尝试调节目镜屈光度。 共聚焦显微镜主要的观察对象是荧光。三丰显微镜常见问题

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。

扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 江苏显微镜配件激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号，而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。

激光共聚焦显微镜的机械运动更少，特别是在光谱成像中，机械运动更稳定，可确保更快，间歇和令人信服的结果。通过将多个检测器集成在一起，可以可靠地重现用户的测量结果。并行光谱检测允许在波长模式下同时读取更多信号。另外，还有一种特殊的采集方法，可以有效提高光谱分辨率。

激光共聚焦显微镜可以显示清晰的细节和高对比度的图像，而不管表面形态和结构分析或表面轮廓如何。提高灵敏度和减少背景噪声是激光共聚焦显微镜应用的先决条件。激光共聚焦显微镜具有出色的灵敏度，良好的降噪技术和激发激光技术，可确保良好的输出功率。

显微镜的观察方法

明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。

暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。

偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。

微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。

光电流测试显微镜-探针台系统：本显微镜是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。本显微镜设计为双光路或3光路，其中一路为导入光通路，另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源，波长范围200nm~20000nm，中间可加入多个波片过滤，起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。所有模块均可拉出设计，对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关，精确控制导入光的辐照时间，精度1ms，范围2ms~∞，在控制界面上可对各种参数进行详细设置。成像光路为同轴照明金相成像，其中一路为1倍成像，可选择第2路成像，为物镜的0.25~10倍率，通常在高低温测试系统里会用到，同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。 共聚焦显微镜观察激发光与发射光。定制显微镜供应

探针台显微镜选用的是长工作距离物镜；三丰显微镜常见问题

透射电子显微镜和扫描电子显微镜两者用的都是电子作为发射源，不过透射电子显微镜的结构更像是我们看到的光学显微镜，即通过两次电子束的聚焦，然后经过样品，经过投影屏放大分析，得到样品的微观结构。但是扫描电子显微镜则没有后面用来放大的投影屏，而是接收屏，即电子打在样品上后激发产生的二次电子，也可以理解为“反射”。所以看到的TEM和SEM在图像成像上，前者看着极其扁平，如同光镜的图像，是一个平面。但是SEM获得的图像有纵深，看着像是3D图像。三丰显微镜常见问题

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