高低温探针台报价

时间:2023年06月26日 来源:

手动探针台是广泛应用于半导体行业的综合经济型测试仪器,主要用于半导体芯片的电参数检测。手动探针台是通过两根探针以及吸片盘够成的回路以及相应大型电参数测试仪对芯片中的集成电路进行检测的。应用范围:手动探针台主要用于对生产及科研中的集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯的电压、电流、电阻等参数进行手动测试。极低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。高温无氧化测试:当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。探针台怎么选合适的配置?高低温探针台报价

经过检测,探针台将参数特性不符合要求的芯片记录下来,在进入后序工序前予以除掉,降低器材的制作本钱。半导体的测验环节,首要包含芯片规划中的规划验证、晶圆制作中的晶圆测脸(CP测验)和封装完结后的成品测验(FT测验》。半导体测验设备首要包含测机、探针台和分选机。在一切的测验环节中都会用到测验机,不同环节中测验机需要和分选机或探针台配合使用探针台是检测芯片的重要设备,在芯片的规划验证阶段,首要作业是检测芯片规划的功能是否可以达到芯片的技术指标,在检测过程中会对芯片样品逐个查看,只要通过规划验证的产品型号才会量产。晶圆测验一般在晶圆厂、封测厂或专门的测脸代工厂进行,首要用到的设备为测验机和探针台。安徽桌面探针台全自动探针台相比普通探针台添加了晶圆材料处理搬运单元(MHU)和模式识别(自动对准)。

自动探针台是一款适合6寸、8寸、12寸晶圆的量产型全自动晶圆探针台,通过使探针卡与晶圆Pad点之间精细接触,实现完成晶圆WAT/CP测试,该设备操作简单并具有良好的机械稳定性,能为客户提供一个具有成本优势且高产量的晶圆测试解决方案,满足晶圆厂、封测厂、测试厂等不同客户的测试需求。经过不断的技术迭代更新,A系列全自动探针台已拥有同步国外的先进技术:低噪声、快速移动、高产能、采用缺口和晶圆ID同步识别,减少了晶圆的加载时间;低重心设计,支持高针数探针卡,

H系列探针台是一款配置综合型手动测试探针台,该系列探针台设备配置丰富,基本可以满足一般实验室的全部测试要求。其样品台可以360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率。并且具备三段式针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离。此设备一般适用于大型实验室或者半导体工厂。产品优势:卡盘可360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率大手柄微分头驱动,省时,省力,省心三段式可升降探针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离低温探针台集成系统。

高低温探针台优势1.满足各种温度的需求:可以满足非常高的温度或非常低的温度的需求,因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,我们针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。2、体积小,稳定性高:与传统探针台相比,高低温真空探针台的稳定性更高,采用先进的技术工艺,让探针台在工作过程中流畅性更高,平稳性更高,从而保证每次实验数据的稳定性,这样实验得出的结果就会更加准确。3、成本更低,可兼容直流跟射频测试的运用:与传统探针台相比,这种探针台采用先进的合成材料,成本方面比传统探针台更低,但是功能性都更加强大。半导体测验设备首要包含测机、探针台和分选机。TFT探针台报价

探针台广泛应用于科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。高低温探针台报价

探针台-高低温真空光电测试系统功能:用于测试半导体器件,材料,发光器件等综合性能表征系统,可测试参数包括:暗电流、光电流、光电压(光伏器件)、响应速度、光谱响应、变光强的R~P响应等。系统由光源、探针台和光电测试三部分组成,根据用户需求,三大部分可以进行定制化开发,以实现不同光谱覆盖范围、不同测试环境和不同测试功能的实现。探针台可选项: 低温/常温/高温、有背栅/无背栅、光纤导入/无光纤、有磁场/无磁场、真空/非真空 等。高低温探针台报价

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