湖南显微镜常见问题

时间:2023年05月05日 来源:

显微镜聚光镜

在照明系统中,聚光镜的作用是比较大限度地把光线聚集起来,投射到显微镜的成像系统中。基于聚光镜的功能,对聚光镜像质的要求为球差和色差,以和显微镜物镜的像差相适应。

显微镜色差

一般在设计时,只在可能条件下取得最小值即可,故聚光镜的选料很重要。聚光镜的材料宜选用低色散的光学玻璃(如K9玻璃)。由于位置色差在视场中叠加的结果是在其边缘出现彩色现象,只要使照明的区域大于标本的尺寸就能避免色差的影响。但是,对柯勒照明来说,要求聚光镜把它的光阑成像在物面上,避免色差影响以消色差聚光镜的方案替代了。消色差聚光镜的结构类似于高倍显微镜物镜,只是焦距比较长,以使光束能够通过较厚的载物玻璃(约2mm)照亮标本。

球差存在将影响聚光镜对光线的聚集能力,降低照明的效果。


聚焦离子束(FIB)显微镜;湖南显微镜常见问题

金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。其主要由光学系统、照明系统和机械系统三部分组成,其中由光源、反光镜、物镜组、目镜和多组聚光镜组组成光学系统;底座上低压灯泡(为提高光源可靠性现多用冷光源即LED灯),反光镜、孔径光栏、视场光栏和聚光镜组成照明系统;试样台、物镜转换器、接目镜、粗调和微调手轮、视场光栏和孔径光栏构成机械系统。新型的金相显微镜还具备瞬时高清抓拍和图像处理功能,金相显微镜跟一般显微镜成像的原理是大致相同。成都体视 显微镜激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号,而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。

共聚焦显微镜技术下一步的研究重点应该集中在以下几点:1、更快的扫描速度目前共聚焦扫描速度受限于扫描设备的机械结构,要想获得更快的扫描速度只能牺(xi)牲分辨率。而很多生物过程非常迅速,目前仍然无法检测。2、更wan美的超高分辨率技术目前超高分辨率技术有STORM、PALM、STED和SSIM几种技术,分辨率从20~200nm不等,但是各种技术均有一定缺陷,例如在样品处理、Z轴方向、光毒性等方面还不近wan美,在实际观察中往往很难达到极限分辨率。3、更强的兼容性共聚焦显微镜技术涉及到多种激发方式,例如多光子和光片式观察,相干反斯托克斯拉曼散射在理论上可以公用一套激光系统。超高分辨率显微术可以搭配白激光技术。显微镜常见故障的排除;

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点,其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件;与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点:

优点:(1)成像质量高,受样品厚度与仪器干涉小(2)可达到原子分辨率(3)结果分析简单、直观(4)能够快速获取样品的综合信息,成像效率高。

缺点:(1)制样时间长,对样品的要求高;(2)一些材料在高能电子束中不稳定;(3)测试成本高,仪器分布稀少。 共聚焦显微镜技术下一步的研究重点。多倍率显微镜

视频显微镜和金像显微镜。湖南显微镜常见问题

什么是体视显微镜?

体视显微镜,又称“实体显微镜”“立体显微镜”或称“解剖显微镜”,是一种具有正像立体感的显微镜,应用于材料宏观表面观察、失效分析、断口分析、生物学、医学、农林、工业及多种应用场景。

体视显微镜均采用两个单独的光学通路,对物体成像后的两光束被两组中间物镜----变焦镜组分开,并组成一定的角度称为体视角一般为12度--15度,再经各自的目镜成像,分别进入人的两只眼睛,每只眼睛看到的标本成像都不一样。这些额外的信息允许大脑通过融合左右图像来重建物体的三维图像。所以体视显微镜的成像拥有常规正置显微镜或者倒置显微镜所没有的立体感。当人们需要与标本进行互动时(例如解剖,筛选,微型雕刻,显微操作等),体视显微镜是很好的选择工具。 湖南显微镜常见问题

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