显微镜规格

显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法

对于不透明物体，采用从侧面或者从上方照明的方法。此时，标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方，有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明，上方照明方式使物镜兼作聚光镜

暗视场照明方法：暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上，暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜，只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样，使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度（对比）好，有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。 激光共聚焦显微镜的明显优势。显微镜规格

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。 显微镜规格透射电子显微镜和扫描电子显微镜；

激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术，传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮，因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉，但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像，这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜，通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描，样品激发（或反射）的光通过针（zhen）孔进入PMT检测器被记录，记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。

透射电镜的工作过程与光学显微镜类似。在光学显微镜中聚焦后的可见光射向样品，穿过样品的光经过物镜、目镜等光学系统聚焦后被眼睛接收。在电子显微镜中，可见光由电子枪发射出来的电子束所代替,在阳极加速电压的作用下，电子经过2、3个电磁透镜会聚为电子束，用来照明样品薄片 (电子的穿透能力很弱，因此样品必须很薄)，穿过样品薄片的电子携带了样品本身的结构信息，经物镜、中间镜和投影镜所组成的成像系统的接力聚焦放大以图像或衍射谱的形式显示于荧光屏或感光材料上。同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。

激光共聚焦显微镜的机械运动更少，特别是在光谱成像中，机械运动更稳定，可确保更快，间歇和令人信服的结果。通过将多个检测器集成在一起，可以可靠地重现用户的测量结果。并行光谱检测允许在波长模式下同时读取更多信号。另外，还有一种特殊的采集方法，可以有效提高光谱分辨率。

激光共聚焦显微镜可以显示清晰的细节和高对比度的图像，而不管表面形态和结构分析或表面轮廓如何。提高灵敏度和减少背景噪声是激光共聚焦显微镜应用的先决条件。激光共聚焦显微镜具有出色的灵敏度，良好的降噪技术和激发激光技术，可确保良好的输出功率。 光电流测试显微镜系统；70XL显微镜常见问题

体视显微镜和视频显微镜。显微镜规格

显微镜透射照明的方式有两种：(1)临界照明这种照明要求聚光镜所成的光源像与被观察物体的物平面重合，如图1所示，相当于物面上放置一个光源，灯丝的形状同时出现在像面上，而造成不理想的观察效果。临界照明透射照明中，为使物镜的孔径角得以充分利用，聚光镜应有与物镜相同或稍大的数值孔径。临界照明聚光镜的孔径光阑常设在聚光镜的物方焦平面上，如果显微镜用的是远心物镜，聚光镜的出射光瞳与物镜的入射光瞳重合。聚光镜的光阑做成可变光阑，可任意改变射入聚光镜的孔径角，使之与物镜的数值孔径匹配。由于临界照明聚光镜的出射光瞳和像方视场分别与物镜的入射光瞳和物方视场重合，所以形成“瞳对瞳，视场对视场”的光管。临界照明的缺点在于当光源亮度不均匀或者呈现明显的灯丝结构时,将会反映在物面上，使物面照度不均匀，从而影响观察效果。为了达到比较均匀的照明，这种照明方式对发光体本身的均匀性要求较高，同时要求被照明物体表面和光源像之间有足够的离焦量。后续物镜的孔径角应该取大一些，如果物镜的孔径角过小，焦深会很大，容易反映出发光体本身的不均匀性。 显微镜规格

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