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显微镜的观察方式，你知道几种？
偏光显微镜具有很高的灵敏度，可用于针对各种各向异性样品的定性和定量研究。定性偏振光显微镜在实践中非常流行，然而偏振光显微镜的定量方面，主要应用于晶体学，矿物学、地质学和化学领域。偏振光显微镜是通过在聚光镜之前和物镜之后插入交叉偏振元件实现的。细胞内具有双折射特性的组分会旋转光的偏振平面，在深色背景上显得明亮。
微分干涉（DIC）是七种观察方式中比较复杂的一种。光路中不仅包括偏光组件，还要包括一组特制棱镜，以放大样品厚度梯度和折射率的微小差异。例如，由于细胞的水相和脂质相之间的折射率差异，脂质双层可以在DIC中产生出色的对比度。
体视显微镜和金像显微镜。上海显微镜供应
显微镜透射照明的方式有两种：（2）柯勒照明柯勒照明光学系统如图2所示。光源经聚光镜前组成像在照明系统的视场光阑上；聚光镜前组经过聚光镜后组成像于标本处，同时也把照明系统视场光阑成像在无限远处，使之与远心物镜的入射光瞳重合。柯勒照明中的前组聚光镜称为柯勒镜，它得到了光源的均匀照明，经过聚光镜后组成像在标本上。故标本上得到均匀的照明，这是柯勒照明的重要特点。聚光镜中的孔径光阑紧贴聚光镜前组，通过聚光镜后组所成的像，即聚光镜的出射光瞳也与显微镜的物平面（标本）贴近，故光阑起到了限制显微镜视场的作用。柯勒照明聚光系统的出射光瞳和像方视场分别与显微镜的物方视场和入射光瞳重合，从而形成“视场对瞳、瞳对视场”的光管。共聚焦显微镜按需定制激光共聚焦显微镜的明显优势。
扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同，被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制，满足不同应用场合
激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号，而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。基于共焦原理的小测量精度对正确读取反射光的峰值的能力有很大影响。共焦光学系统有许多结构方法。在几种形状测量激光显微镜系统中使用的“针（zhen）孔共聚焦模式”。针（zhen）孔共聚焦法在光接收元件之前设计一个针（zhen）孔。针（zhen）孔的直径只有几十微米，当反射光失去聚焦时，其作用是阻挡反射光。通常，光学系统和激光共焦光学系统的反射光进入光接收元件。在“非聚合”的情况下，光学系统的反射光(聚焦模糊光)通常进入光接收元件。并且激光共聚焦光学系统的反射光(聚焦模糊光)通过针（zhen）孔被切断。也就是说，只有在聚焦之后，反射光才能进入光接收元件，这是形成共焦光学系统的基础。体视显微镜的放大倍数一般在5-100倍之间， 一般有透射光，斜射光和外部环形光源等照明方式。
探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。探针台显微镜选用的是长工作距离物镜；浙江FS70L显微镜
体视显微镜和视频显微镜。上海显微镜供应
扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。
扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 上海显微镜供应
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