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显微镜聚光镜

在照明系统中，聚光镜的作用是比较大限度地把光线聚集起来，投射到显微镜的成像系统中。基于聚光镜的功能，对聚光镜像质的要求为球差和色差，以和显微镜物镜的像差相适应。

显微镜色差

一般在设计时，只在可能条件下取得最小值即可，故聚光镜的选料很重要。聚光镜的材料宜选用低色散的光学玻璃（如K9玻璃)。由于位置色差在视场中叠加的结果是在其边缘出现彩色现象，只要使照明的区域大于标本的尺寸就能避免色差的影响。但是，对柯勒照明来说，要求聚光镜把它的光阑成像在物面上，避免色差影响以消色差聚光镜的方案替代了。消色差聚光镜的结构类似于高倍显微镜物镜，只是焦距比较长，以使光束能够通过较厚的载物玻璃（约2mm)照亮标本。

球差存在将影响聚光镜对光线的聚集能力，降低照明的效果。

体视显微镜的光路设计；显微镜供应商家

体视显微镜和光学显微镜的区别

体视显微镜是利用双通道光路，为左右两眼提供一个具有立体感的图像。它实质上是两个单镜筒显微镜并列放置；光学显微镜是利用光学原理，把人眼所不能分辨的微小物体放大成像，以供人们提取微细结构信息的光学仪器。体视显微镜其光学结构与普通光学显微镜不同，体视显微镜的成像具有三维立体感的；而普通光学显微镜的成像不具有三维立体感。体视显微镜被广泛应用在工业上更重要的特点是因为其立体感强，成像清晰和宽阔，又具有长工作距离，并是适用范围非常广的常规显微镜，操作方便，直观，检定效率高；光学显微镜在地质学等理工科专业中有重要应用。 视频显微镜供应正确使用金相显微镜的方法；

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点：

优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。

缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。

激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号，而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。基于共焦原理的小测量精度对正确读取反射光的峰值的能力有很大影响。共焦光学系统有许多结构方法。在几种形状测量激光显微镜系统中使用的“针（zhen）孔共聚焦模式”。针（zhen）孔共聚焦法在光接收元件之前设计一个针（zhen）孔。针（zhen）孔的直径只有几十微米，当反射光失去聚焦时，其作用是阻挡反射光。通常，光学系统和激光共焦光学系统的反射光进入光接收元件。在“非聚合”的情况下，光学系统的反射光(聚焦模糊光)通常进入光接收元件。并且激光共聚焦光学系统的反射光(聚焦模糊光)通过针（zhen）孔被切断。也就是说，只有在聚焦之后，反射光才能进入光接收元件，这是形成共焦光学系统的基础。金相显微镜放大倍数通常在50-1000倍，照明系统有透射光和同轴反射光；

显微镜的使用方法及步骤：1、取用和放置使用时首先从镜箱中取出显微镜，一手握持镜臂，一手托住镜座，保持镜身直立，不可用一只手倾斜提携，防止摔落目镜。轻取轻放，放时使镜臂朝向自己，距桌边沿5-10厘米处。桌子平衡，桌面清洁，避免直射阳光。

2、开启光源打开电源开关

3、放置玻片标本将待镜检的玻片标本放置在载物台上，材料正对通光孔中间。再用弹簧压片夹在玻片的两端，防止玻片标本移动。若为玻片移动器，则将玻片标本卡入玻片移动器，然后调节玻片移动器，将材料移至正对通光孔**的位置

4、低倍物镜观察用显微镜观察标本时，应先用低倍物镜找到物像。其法如下：(1)转动粗调螺旋，用眼从侧面观望，使镜筒下降，直到低倍物镜距标本0.5厘米左右为度。(2)用左眼从目镜中观察，右眼自然睁开，用手慢慢转动粗调螺旋，使镜筒渐渐上升，直到视野内的物像清晰为止。此后改用微调螺旋，稍加调节焦距，使物像**清晰。(3)用手前后左右轻轻移动玻片或调节玻片移动器，便可找到欲观察的部分。要注意视野中的物像为倒像，移动玻片时应向相反方向移动。

在使用显微镜时要细心和耐心，勿操之过急，动作过猛，以防操作失误而损坏构件。不要用手触摸光学玻璃部分，防止剧烈碰撞而损坏构件 四种类型的显微镜头：单筒目镜、双筒目镜、三目以及根据人体工程改造的。光电流 显微镜产品介绍

共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源。显微镜供应商家

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同，被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制，满足不同应用场合显微镜供应商家

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