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典型的共焦显微镜装置是在被测对象焦平面的共轭面上放置两个小孔，其中一个放在光源前面，另一个放在探测器前面，如图1所示。由图可知，当被测样品处于准焦平面时，探测端收集到的光强比较大；当被测样品处于离焦位置时，探测端的光斑发生弥散，光强迅速减小。因此，只有焦平面上的点所发出的光才能透过出射针（zhen）孔，而焦平面以外的点所发出的光线在出射针（zhen）孔平面是离焦的，绝大部分无法通过中心的针（zhen）孔。因此，焦平面上的观察目标点呈现亮色，而非观察点则作为背景呈现黑色，反差增加，图像清晰。在成像过程中，两针（zhen）孔共焦，共焦点为被探测点，被探测点所在的平面为共焦平面。激光共焦扫描显微镜是点成像。体视 显微镜供应商家

激光共聚焦显微镜可以将水平分辨率提高40%以上，其优势可以达到120nm。激光共聚焦显微镜具有高度适应性，并且是非接触式检测。为了改善场景的深度，必须在高度方向上进行扫描以获得一系列切片，然后重叠以获得三维图像。激光共聚焦显微镜不需要样品制备和电导率处理，并且样品没有损坏(可以检测粉末，软样品和透明样品)。激光共聚焦显微镜具有丰富的测量结果，高分辨率的2D和3D摄影。各种2D和3D显示结果的比较，大面积图像样条曲线，非接触粗糙度测量，膜厚度测量，荧光分析等。操作和维护都很简单。激光共聚焦显微镜不需要昂贵的材料，模块设计，用户友好的操作软件以及自动校正程序。南昌共聚焦显微镜共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。

扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。透射电子显微镜和扫描电子显微镜；

激光共焦扫描显微镜是点成像，因此要想获得物体的二维图像，需要借助于x和y方向的二维扫描。不同的显微镜采用不同的扫描方式：

(1)物体扫描。即物体本身按照一定的规律移动，而光束保持不变。

优点：光路稳定；缺点：需要大幅度的扫描工作台，因此扫描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振镜构成光束扫描系统。即通过控制扫描振镜将聚焦光点有规律地反射到物体某一层面，完成二维扫描。其优点是精度较高，常用于高精度测量。扫描速度比物体扫描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用声光偏转元件进行扫描，通过改变声波输出频率进而改变光波的传输方向来实现扫描。其突出优点是扫描速度非常快，由美国研制的利用声光偏转器产生实时视频图像的扫描系统，扫描一幅二维图像只需1/30s，几乎做到了实时输出。

(4)Nipkow盘扫描，其扫描过程是通过旋转Nipkow盘而保持其他元件不动完成的，可以一次成像，速度非常快。但是由于成像光束是轴外光，所以必须对透镜的轴外像差进行校正，并且光能利用率很低 体视显微镜的广泛应用；体视 显微镜供应商家

显微镜使用注意事项；体视 显微镜供应商家

激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术，传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮，因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉，但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像，这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜，通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描，样品激发（或反射）的光通过针（zhen）孔进入PMT检测器被记录，记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。体视 显微镜供应商家

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